Ceyear 光測定器ファミリー日本初上陸

CEYEAR社から光測定器ファミリー日本初上陸！

CEYEAR社は、高周波～光計測までの幅広い電子計測機器の最先端技術を提供いたします。

光測定器

Ceyear社は、光電子テストの分野で 30 年の技術研究と製品開発の経験を持ち、その製品には光コンポーネントアナライザ (Lightwave Component Analyzer／Opto-Electronic Network Analyzer)、光スペクトル・アナライザ、波長可変レーザー光源、OTDR、光ファイバー融着接続機、レーザー光源、光パワーメーター、光減衰器、その他の光ファイバー通信ネットワークで広く使用されている主要な機器でのソリューションを提供いたします。同社の技術革新と製品の品質が、今後の業界の発展に大きく貢献することが期待されています。

（T&Mコーポレーション株式会社はCEYEAR社の日本総代理店です）

	■6433 Lightwave Component Analyzer（最大周波数：110GHzまで） 6433 光コンポーネントアナライザは、E/O デバイス、O/E デバイス、O/O デバイスの特性をテストする、光電融合デバイスの評価に最適なソリューションを提供します。 3674シリーズ高性能ベクトルネットワークアナライザ（～110GHz, 2/4port)を核にしたソリューションです。 Internal laser wavelength：1310 nm ± 20 nm、1550 nm ± 20 nm 次世代のOptical and Wireless Network構築での活用に期待されます。詳細情報はこちらをクリックしてください。 6433P 110GHzモデルはこちら
	■6433 Lightwave Component Analyzer関連製品 ■3674シリーズベクトルネットワークアナライザ（最大周波数：110GHz） Ceyear 3674 シリーズベクトルネットワークアナライザは、技術革新の頂点を極めた製品で、半導体チップテスト、材料テスト、アンテナテスト、高速ケーブルテスト、マイクロ波コンポーネントテストなどの課題に簡単に対処できます。主な特徴・500Hz～110GHzの広帯域同軸カバレッジ(110GHzモデルは1mmコネクタ) ・1Hz～30MHz IF帯域幅、測定ポイント200001 ・超高速スキャン速度、140dB以上の広いダイナミックレンジ・パルスSパラメータ測定、周波数変換デバイス測定、ゲイン圧縮測定、NF測定、周波数スペクトル測定、信号整合性測定、全高調波歪み測定、アクティブ相互変調歪み測定、自動フィクスチャ除去など、21の機能を備えています。詳細情報はこちらをクリックしてください。
	■6362D Optical Spectrum Analyzer (600 nm ～ 1700 nm) 6462Dは、高解像度、広いダイナミックレンジ、高速、高性能の光スペクトルアナライザです。DWDM や光増幅器などの 600 nm ～ 1700 nm の光システムのテストに最適です。また、LED、FP-LD、DFB-LD、光トランシーバ、光ファイバー、ファイバーグレーティングなどの光デバイスなどの光アクティブおよびパッシブデバイスのテストにも使用できます。詳細情報はこちらをクリックしてください。
	■6317A Tunable Laser Source(1480nm ～ 1680nm) 6317A チューナブルレーザーソースは、高精度モーションシステムと精密光共振器により、1 ～ 200 nm/s の掃引速度で全波長範囲にわたって高出力、狭線幅、モードホッピングのない連続掃引出力が可能になります。コヒーレント制御、微調整、リモート制御を実現できます。Ceyear 6317A は、光通信、光コヒーレンス、光センシング、精密分光法などの分野でのテストと測定に最適なチューナブルレーザーソースです。詳細情報はこちらをクリックしてください。
	■6422/20 OTDR 製品概要 6422 OTDRは、1310 nm、1550 nm、1490 nm、1625 nm、1650 nmのシングルモード波長、850 nm、1300 nmのマルチモード波長、およびカスタマイズされた特殊波長のテストに使用できます。単一波長、多波長、オンラインテストなどの複数のオプションモジュールを提供します。最大ダイナミックレンジは最大50dBです。最小のイベントデッドゾーンが0.5mで、近接接続を監視しやすく、最低のサンプリング分解能が2.5cmで、イベントポイントを正確に特定できるように設計されています。さらに、このデバイスは、安定した光源、光パワーメーター、可視赤色光源、ファイバー端面検査テスターなど、複数の便利な機能オプションを備えて設計されています。
	■6419/A B-OTDR 光ファイバひずみ分布試験機光ファイバひずみ分布試験機は、光ファイバケーブルのひずみ分布、損失分布、ブリルアン散乱スペクトルをさまざまな距離点で同時に測定でき、3次元および複数の分布パラメータを同時に表示する機能を備えており、高いひずみ試験精度を備えています。この製品は、橋梁、ダム、トンネル、高層ビル、石油掘削プラットフォーム、石油パイプラインなどの健全性状態の検出や、地滑り、土石流、土石流などの地質災害の予測・予測に幅広く活用できます。また、光ファイバジャイロスコープや光ファイバハイドロフォンの開発および製造試験、さらには海底光ケーブルの開発、生産、建設、受入およびリンクメンテナンス中の光ファイバリングや海底光ケーブルのひずみ分布試験にも適しています。

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上記製品について、ご興味が御座いましたら、ご遠慮なく弊社へお問い合わせしてください。。

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	■6433 Lightwave Component Analyzer（最大周波数：110GHzまで） 6433 光コンポーネントアナライザは、E/O デバイス、O/E デバイス、O/O デバイスの特性をテストする、光電融合デバイスの評価に最適なソリューションを提供します。 3674シリーズ高性能ベクトルネットワークアナライザ（～110GHz, 2/4port)を核にしたソリューションです。 Internal laser wavelength：1310 nm ± 20 nm、1550 nm ± 20 nm 次世代のOptical and Wireless Network構築での活用に期待されます。詳細情報はこちらをクリックしてください。 6433P 110GHzモデルはこちら
	■6433 Lightwave Component Analyzer関連製品 ■3674シリーズベクトルネットワークアナライザ（最大周波数：110GHz） Ceyear 3674 シリーズベクトルネットワークアナライザは、技術革新の頂点を極めた製品で、半導体チップテスト、材料テスト、アンテナテスト、高速ケーブルテスト、マイクロ波コンポーネントテストなどの課題に簡単に対処できます。主な特徴・500Hz～110GHzの広帯域同軸カバレッジ(110GHzモデルは1mmコネクタ) ・1Hz～30MHz IF帯域幅、測定ポイント200001 ・超高速スキャン速度、140dB以上の広いダイナミックレンジ・パルスSパラメータ測定、周波数変換デバイス測定、ゲイン圧縮測定、NF測定、周波数スペクトル測定、信号整合性測定、全高調波歪み測定、アクティブ相互変調歪み測定、自動フィクスチャ除去など、21の機能を備えています。詳細情報はこちらをクリックしてください。
	■6362D Optical Spectrum Analyzer (600 nm ～ 1700 nm) 6462Dは、高解像度、広いダイナミックレンジ、高速、高性能の光スペクトルアナライザです。DWDM や光増幅器などの 600 nm ～ 1700 nm の光システムのテストに最適です。また、LED、FP-LD、DFB-LD、光トランシーバ、光ファイバー、ファイバーグレーティングなどの光デバイスなどの光アクティブおよびパッシブデバイスのテストにも使用できます。詳細情報はこちらをクリックしてください。
	■6317A Tunable Laser Source(1480nm ～ 1680nm) 6317A チューナブルレーザーソースは、高精度モーションシステムと精密光共振器により、1 ～ 200 nm/s の掃引速度で全波長範囲にわたって高出力、狭線幅、モードホッピングのない連続掃引出力が可能になります。コヒーレント制御、微調整、リモート制御を実現できます。Ceyear 6317A は、光通信、光コヒーレンス、光センシング、精密分光法などの分野でのテストと測定に最適なチューナブルレーザーソースです。詳細情報はこちらをクリックしてください。
	■6422/20 OTDR 製品概要 6422 OTDRは、1310 nm、1550 nm、1490 nm、1625 nm、1650 nmのシングルモード波長、850 nm、1300 nmのマルチモード波長、およびカスタマイズされた特殊波長のテストに使用できます。単一波長、多波長、オンラインテストなどの複数のオプションモジュールを提供します。最大ダイナミックレンジは最大50dBです。最小のイベントデッドゾーンが0.5mで、近接接続を監視しやすく、最低のサンプリング分解能が2.5cmで、イベントポイントを正確に特定できるように設計されています。さらに、このデバイスは、安定した光源、光パワーメーター、可視赤色光源、ファイバー端面検査テスターなど、複数の便利な機能オプションを備えて設計されています。
	■6419/A B-OTDR 光ファイバひずみ分布試験機光ファイバひずみ分布試験機は、光ファイバケーブルのひずみ分布、損失分布、ブリルアン散乱スペクトルをさまざまな距離点で同時に測定でき、3次元および複数の分布パラメータを同時に表示する機能を備えており、高いひずみ試験精度を備えています。この製品は、橋梁、ダム、トンネル、高層ビル、石油掘削プラットフォーム、石油パイプラインなどの健全性状態の検出や、地滑り、土石流、土石流などの地質災害の予測・予測に幅広く活用できます。また、光ファイバジャイロスコープや光ファイバハイドロフォンの開発および製造試験、さらには海底光ケーブルの開発、生産、建設、受入およびリンクメンテナンス中の光ファイバリングや海底光ケーブルのひずみ分布試験にも適しています。

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