印加電圧（Test Voltage）とは

～試験対象に意図的に加える電圧条件～

■ 定義

印加電圧（Test Voltage）とは、電子部品・回路・絶縁体・センサなどの試験や測定時に、外部から意図的に加えられる電圧のことを指します。
これは製品の特性評価、安全確認、品質検査などのために設定され、直流（DC）または交流（AC）、パルスや周波数可変信号として与えられる場合もあります。

■ 主な用途

分野	印加電圧の目的
✅ 絶縁耐圧試験	絶縁が所定の電圧で破壊しないことを確認
✅ 静電容量測定（C-V）	バイアス電圧の変化に対する容量変化の追跡
✅ LCR測定	AC信号を印加し、ZやL・C・Rなどの値を評価
✅ MOS構造評価	ゲートバイアス電圧を変えてしきい値電圧などを測定
✅ 電源評価	負荷に定電圧を印加し、出力応答や効率を測定

■ 印加電圧の種類

種類	説明
DC印加電圧	直流バイアスとして使用、MOS構造やC-V測定に最適
AC印加電圧	インピーダンス測定や高周波特性評価に使用
パルス電圧	スイッチング応答や瞬間耐圧の試験などに使用
ステップ電圧	過渡応答解析に適用（例：Bodeプロット、ステップ応答）

■ 印加電圧に関する仕様項目（例）

項目	説明
最大印加電圧	製品に安全に加えられる最大電圧
分解能	印加電圧を設定できる最小ステップ幅
安定度	設定値と実際の出力電圧の誤差範囲
過電圧保護	設定値を超えた際に自動遮断される機能

■ 関連する装置例（T&M取扱製品）

製品カテゴリ	印加電圧の役割
✅ 半導体C–V特性測定器	ゲート電圧の掃引印加（±40Vなど）で容量変化を測定
✅ LCRメーター / インピーダンスアナライザ	数mV～数VのAC信号でZ, R, L, Cを測定
✅ 耐電圧試験機（Hipot）	1kV～10kV以上の高電圧を一時的に印加して絶縁を検証
✅ ソースメジャーユニット（SMU）	精密なDC電圧印加と電流測定を同時に実施

■ まとめ

項目	内容
定義	評価や試験のために外部から与える制御された電圧
分類	DC、AC、パルス、ステップ等の形式に分かれる
主な用途	絶縁評価、電気特性測定、MOS・パッシブ素子の評価など
T&M対応	CV測定器、LCRメーター、SMU、耐電圧試験機などで広範囲をカバー

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