相互相関(Cross-correlation)法は、測定器自体のノイズフロアよりも低い位相雑音を測定するための「魔法の杖」のような手法です。
全ディジタル計測において、ADCのジッタや熱雑音が壁となる場合、この手法を導入することで理論上、測定限界を無限に(測定時間をかければかけるほど)下げることが可能になります。
1. 相互相関法の基本原理
信号を2つの独立した系(チャンネル)で同時に測定し、それらの**相関(共通点)**のみを抽出します。
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共通成分: 被測定信号(DUT)の位相雑音。
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非共通成分: 各ADC、アンプ、基準信号源が個別に持つ内部雑音。
数学的には、2つの系統の出力を x(t) と y(t) とすると、それぞれの相互相関をとることで、各系統で独立な雑音成分は平均化(平均をとる回数 M)によって 1/√M で減衰していきます。
2. システム構成(全ディジタル)
全ディジタル方式では、1つのDUT出力を分配器で分け、2つの独立したADCでダイレクト・サンプリングします。
処理のプロセス
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分配: DUT信号を2系統に分ける。
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サンプリング: 完全に独立した(またはコヒーレントな)2つのADCでデジタル化。
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位相抽出: 各系統でヒルベルト変換等を用いて位相ゆらぎ $\phi_1(t)$ と $\phi_2(t)$ を算出。
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FFT & 相互相関:
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それぞれの信号を周波数領域 $\Phi_1(f)$ と $\Phi_2(f)$ に変換。
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クロス・スペクトル密度(CSD) $S_{xy}(f) = \Phi_1(f) \cdot \Phi_2^*(f)$ を計算。
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多数回の平均化を行う。
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3. 改善されるノイズフロア
相互相関の効果は、平均化回数 $M$ に対してデシベル単位で以下のように現れます。
| 平均回数 (M) | 改善量 (dB) |
| 10 | 5 dB |
| 100 | 10 dB |
| 1,000 | 15 dB |
| 10,000 | 20 dB |
注意点: > 2つの系統が完全に独立している(アイソレーションが保たれている)ことが絶対条件です。電源ラインや基準クロックを通じて雑音が相関を持ってしまうと、その雑音は「DUTの雑音」として誤検知されてしまいます。
4. なぜ「全ディジタル」と相性が良いのか
従来のミキサを用いる方式では、2つの独立したアナログ局発(LO)を用意する必要があり、装置が非常に高価で巨大になりました。
全ディジタル方式では、高速ADCのデータをFPGAやPC内で並列処理するだけで済むため、ハードウェアの追加コストを抑えつつ、極めて低いノイズフロアを実現できます。
次のステップ
相互相関法を適用した際の「測定時間の見積もり(何回平均すれば目標の精度に届くか)」や、FPGA実装時の「リアルタイム演算の負荷」について、具体的な数値を交えて掘り下げてみますか?
出典:Google Gemini
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