近傍界測定とは? ─ EMIノイズ源を特定するための簡易測定法
近傍界測定(Near-field Measurement / Near-field Scanning)とは、電子機器から発生する電磁ノイズを装置のごく近く(数mm〜数cmの距離)で観測する測定方法です。
主に、EMI(電磁妨害)対策の初期段階でノイズ源を特定し、効果的な対策を行うために活用されます。
✅ なぜ「近傍界」で測定するのか?
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EMC測定の中でも放射ノイズ(EMI)の源を特定することは非常に重要
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電源ラインやクロック回路、筐体、ケーブルなど局所的にノイズが強く出る部位を把握することで、
→ 対策部品の配置や回路修正を効率的に実施できる
✅ 近傍界測定の主な用途
用途 | 説明 |
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ノイズ源の特定 | 発生源となっているIC、ケーブル、パターンなどを特定 |
対策効果の確認 | フィルタ、シールド処理の前後比較 |
開発段階での予備評価 | 本試験前に自社内で簡易評価可能 |
✅ 測定に使用する機器(基本構成)
機器名 | 機能 |
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近傍界プローブ | 電界(E)/磁界(H)を局所的に検出するセンサー |
スペクトラムアナライザ | 検出されたノイズの周波数と強度を表示 |
プリアンプ(任意) | 微弱信号の測定感度を上げる補助機器 |
※プローブは複数種類あり、用途によって「E面用」「H面用」「高周波用」などを使い分けます。
✅ 測定の流れ(例)
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測定対象機器を動作状態にする
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プローブを装置表面に沿ってゆっくりスキャン
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アナライザでノイズ強度と周波数を確認
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ノイズのピーク位置と発生部品を突き止める
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フィルタやシールドなどの対策を施し、再測定で効果を確認
✅ 注意点・限界
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近傍界測定は正式なEMC認証試験ではありません
→ あくまで開発時の事前評価やノイズ源分析が目的 -
絶対値(dBμVなど)の精密な評価ではなく、相対的な変化の比較が中心
まとめ
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近傍界測定は、ノイズ対策の出発点となる重要な技術
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簡単な機材構成でも、**ノイズ発生箇所の「見える化」**が可能
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EMC対策コストや開発時間の削減につながる、実践的な測定手法