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近傍界測定とは

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近傍界測定とは？ ─ EMIノイズ源を特定するための簡易測定法

 

近傍界測定（Near-field Measurement / Near-field Scanning）とは、電子機器から発生する電磁ノイズを装置のごく近く（数mm〜数cmの距離）で観測する測定方法です。
主に、EMI（電磁妨害）対策の初期段階でノイズ源を特定し、効果的な対策を行うために活用されます。

✅ なぜ「近傍界」で測定するのか？

  • EMC測定の中でも放射ノイズ（EMI）の源を特定することは非常に重要

  • 電源ラインやクロック回路、筐体、ケーブルなど局所的にノイズが強く出る部位を把握することで、
    → 対策部品の配置や回路修正を効率的に実施できる

✅ 近傍界測定の主な用途

用途 説明
ノイズ源の特定 発生源となっているIC、ケーブル、パターンなどを特定
対策効果の確認 フィルタ、シールド処理の前後比較
開発段階での予備評価 本試験前に自社内で簡易評価可能

✅ 測定に使用する機器（基本構成）

機器名 機能
近傍界プローブ 電界（E）／磁界（H）を局所的に検出するセンサー
スペクトラムアナライザ 検出されたノイズの周波数と強度を表示
プリアンプ（任意） 微弱信号の測定感度を上げる補助機器

※プローブは複数種類あり、用途によって「E面用」「H面用」「高周波用」などを使い分けます。

✅ 測定の流れ（例）

  1. 測定対象機器を動作状態にする

  2. プローブを装置表面に沿ってゆっくりスキャン

  3. アナライザでノイズ強度と周波数を確認

  4. ノイズのピーク位置と発生部品を突き止める

  5. フィルタやシールドなどの対策を施し、再測定で効果を確認

✅ 注意点・限界

  • 近傍界測定は正式なEMC認証試験ではありません
    　→ あくまで開発時の事前評価やノイズ源分析が目的

  • 絶対値（dBμVなど）の精密な評価ではなく、相対的な変化の比較が中心

まとめ

  • 近傍界測定は、ノイズ対策の出発点となる重要な技術

  • 簡単な機材構成でも、**ノイズ発生箇所の「見える化」**が可能

  • EMC対策コストや開発時間の削減につながる、実践的な測定手法

 

 

 

参考：

「初めてのスペアナによるEMIノイズ対策」　スペアナによるEMIノイズ測定の手順書を差し上げています。

  • 全８２ページの図解による手順書
  • 普段スペアナを使用しない方向け
  • オシロスコープとの違いから紹介
  • 近接プローブでのノイズ源探索
  • EMIプリコンプライアンスモード紹介

初めてのスペアナによるEMIノイズ対策（抜粋）

資料は下記フォームよりご依頼ください。
https://tm-co.co.jp/contact/

 

 

Ｔ＆ＭコーポレーションではNEXTEM社と協調してSIGLENT社、Ceyear社の電子計測器（スペアナ, VSG, VNA等）による EMIノイズ評価に必要な電子測定器、システムの提案を行っております。お気軽にお問い合わせフォームよりご相談くださいませ。
https://tm-co.co.jp/contact/