■FPOR（FABRY-PEROT OPEN RESONATOR）

（EMArges社製：ネクステム株式会社取り扱い）

EMArges社のFPOR は、10～170 GHz の周波数範囲で低損失誘電体シートの電磁特性の『自動』広帯域かつ正確な共振測定を行うための、ガウスミラーを備えた新しいタイプのファブリペローオープン共振器です。このシステムには、測定プロセスを制御し、測定された周波数と Q 係数からテスト対象材料の複素誘電率を抽出する専用ソフトウェアが搭載されています。

【主な特徴】
・周波数帯域：10 ～ 110 GHz（同軸接続）・110 ～ 170 GHz（導波管接続）
・比誘電率Dk = 1 - 15 (精度：δDk < 0.5%)
・誘電正接Df > 10^-5（最高精度：δDf < 2%)
・試料厚み ：10μm ～ 3mm（Dk > 3.5の試料の場合、別途厚み制限有り）
・試料直径 ：75mm ～ 150 mm（最適直径：80mm ～ 100mm）

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液体試料用　FPOR

EMArges社では、フィルム材料以外にも液体の誘電率測定器や

金属の導電率測定器も開発しております。

液体試料用　Fabry-Perot open resonator (FPOR)

・frequency range: 15 – 50 GHz (1.5 GHz resolution)
・dielectric constant: Dk = 1 – 15 (accuracy: Dk < 0.5%)
・loss tangent: Df > 10^-4 (achievable accuracy: Df < 2%)
・room temperature only

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金属の導電率測定器(FPOR)

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5G/6G MAESTRO Publishes Materials Development and Electrical Test Roadmap(NIST)

NIST Advanced Manufacturing Technology (MfgTech) Roadmap

5G/6G mmWave Materials and Electrical Test Technology Roadmap (5G/6G MAESTRO)
Low Loss Dielectric Materials Characterization Roadmap April 2023

ミリ波材料の特性評価とテストの 10 年ロードマップの作成を目指す最近の iNEMI イニシアチブについて、「低損失誘電体材料特性評価ロードマップ」で説明されており、この研究の一部として当社(EMArges)の測定治具が選択されています (Figure 5. QWED P.15を参照)。

■3674P ベクトル ネットワーク アナライザ（10MHz～110GHz）

Ceyear 3674P ベクトル ネットワーク アナライザは、エクステンダーなしで110GHzまでの測定を可能とする製品です。

主な特徴
・10MHz～110GHzの広帯域同軸カバレッジ

・portコネクタ： 1mmコネクタ

・2/4port

・エクステンダにより最大750GHz

・140dB以上の広いダイナミックレンジ
・超高速スキャン速度

詳細情報はこちらをクリックしてください。

・従来のVNA frequency extendersによる

　110GHｚ測定セットアップ

・逓倍器による高調波、ノイズフロア上昇、ダイナミックレンジ減少などの考慮が必要かもしれません。

・シンプルなダイレクト接続で110GHzまでの測定セットアップ

VNAメーカーのCeyear社とFPORメーカーのEMArges社は協調して中国国内市場の開拓、納入実績がございます。(110GHz エクステンダなしのセットアップ）

出典：iNEMI and IPC v1, March 2024

Complex Integrated Systems,  white paper　

https://go.ipc.org/complexintegratedsystems

Applications Enabled By CIS

CISによって実現されるアプリケーション（ミリ波帯対応素材）
複合統合システムが重要な役割を果たすアプリケーションの例:

・5G mmWave システムによる大規模ワイヤレス ブロードバンド
・エッジ デバイスとデータ センターでの高性能コンピューティング アプリケーション
・AR/VR/MR デバイス
・乗用車向け先進運転支援システム
・統合フォトニクス

出典：iNEMI Roadmap

https://roadmap.inemi.org/ir/applications-enabled-by-cis

Complex Integrated Systems:

The Future of Electronics Manufacturing
Oct 10, 2024 | By Sandy Gentry
iNEMI/IPC CIS Tech Topic Series

Download a copy of the presentation and recording from the first in a series of webinars on complex integrated systems (CIS).

出典：IPC

https://www.ipc.org/blog/complex-integrated-systems-future-electronics-manufacturing

mmWave Permittivity Reference Material Development

Project Leads
　Michael J Hill (Intel)
　Nate Orloff (NIST)
　Lucas Enright (NIST)
　iNEMI Project Manager: Urmi Ray

End-of-Project Webinar: mmWave Permittivity Reference Material Development (January 17, 2024)

mmWave_permittivity_EOP.pdf

出典：iNEMI