CEYEAR（セイヤー）3674シリーズ　ベクトル・ネットワーク・アナライザ

主な特長

・最小 20pm のスペクトル分解能
・周波数範囲500 Hz～最大110 GHz、全11モデルをラインナップ
・優れたダイナミックレンジ：131 dB@20 GHz
・Sパラメータ測定、ミキサ／コンバータのスカラー／ベクトル解析、利得圧縮測定、3Dビュー機能、
  雑音指数測定、スペクトラム解析、THD測定など豊富な測定機能
・対数・線形振幅、SWR、位相、スミスチャートなど多彩な表示形式
・マルチウィンドウ／マルチチャネル測定に対応し複雑な測定プランを即時実行
・15.6インチカラー・マルチタッチスクリーン、2ポートまたは4ポート構成を選択可能、豊富な測定インターフェースを搭載

超広帯域対応で低周波側は500Hzまで拡張可能、最大110GHzまで測定可能な広い測定レンジを実現。
高速測定により生産性を向上し、高精度測定により高規格製品の検証要求に対応します。最大30MHzのIF帯域幅により、高速スイープおよび狭パルス信号測定が可能、最大200001ポイントの測定ポイント数によりより詳細な特性評価を実現。超広帯域基本波ミキシング技術および出力改善技術によりダイナミックレンジを大幅向上し、最良値で140dBを達成。フィルタなど大きなダイナミックレンジが求められるデバイス測定でも、高精度かつ信頼性の高い測定結果を提供します。

パルスSパラメータ測定、周波数変換デバイス測定、利得圧縮測定、雑音指数測定、スペクトラム測定、SI（信号品質）測定、全高調波歪測定、アクティブIMD測定、21種類の自動フィクスチャ除去機能などを搭載し、特定アプリケーション向けのシステムレベル試験に対応することで、各産業ユーザーの多様な測定ニーズを正確に満たします。

パルス周期最大70秒、パルス分解能8.3ns、42ns未満の広帯域同期パルス測定に対応。内部同期／外部同期モード切替、内部4パルス源による多モード変調、ワイドバンド同期測定／ナローバンド非同期測定の自動切替、ナローパルス測定性能を向上させる適応ナローバンドフィルタを搭載。さらに3系統のトリガ入出力を備え、柔軟なシステム連携を実現し、パルスSパラメータ、パルスエンベロープ、パルスポイント測定に対応します。

1台の測定器で振幅応答と絶対位相・遅延応答を同時に評価でき、ミキサ／周波数コンバータの振幅応答、絶対位相、絶対遅延を高精度に測定可能です。単一接続で複雑な特性を包括的に評価できるため、優れた振幅・位相測定精度を維持しながら、効率的な周波数変換デバイス試験を実現します。

ミキサ／コンバータ特性のキャラクタライゼーション：ミキサ／コンバータのベクトル測定解析により、対象デバイスの動作特性を正確に抽出し、コンバータ特性評価に必要なキャラクタライゼーションを実行できます。本キャラクタライゼーション機能は独立機能として動作し、生成されたミキサ特性データは自動的にベクトル測定解析へ適用でき、測定効率と再現性を向上させます。

 

1回の接続とキャリブレーションで、アクティブデバイスの線形利得、圧縮点における利得、入力電力・出力電力、線形入力マッチングなどの利得圧縮パラメータを迅速に測定できます。さらに、3Dビュー機能により、励起状態における被測定デバイスの特性を立体的に表示でき、周波数プロファイルやパワープロファイルを視覚化することで、各周波数点・各電力点での特性を直感的に把握でき、デバイス性能の理解がより容易になります。

 

 

 

高速・高精度・広ダイナミックレンジの雑音指数測定に対応し、単一接続でSパラメータ、雑音指数、雑音パラメータ、利得圧縮、周波数変換利得を同時に評価できます。コールドソース方式に基づき高精度な雑音指数および雑音パラメータ測定が可能で、高度な雑音相関行列モデルとVNAの精密Sパラメータ校正を組み合わせることで、低雑音デバイスにも適した高精度測定を実現します。ダイナミックレンジは最大55dBを達成し、大利得デバイスの雑音特性評価にも対応します。また、特許取得済みのノイズ・エンベッド／デエンベッド技術により、マイクロ波チップなど非標準インターフェースデバイスの雑音指数測定を可能とし、被試験デバイスと測定系との不整合による影響を効果的に排除します。

マルチポートの不要輻射および高調波を高速に探索可能で、ベクトルネットワークアナライザ各ポートで被測定デバイスの入力・出力スペクトラム測定に対応します。高速フーリエ変換（FFT）技術に基づくスペクトラム解析により、小さなRBW設定でも不要輻射および高調波の状態を迅速に特定できます。アクティブデバイス試験では、1台・1回の接続でSパラメータ測定、不要輻射・高調波測定など複数パラメータを同時評価可能で、比対および絶対誤差補正技術により測定精度をさらに向上します。また、バンド内電力、電力スペクトル密度、占有帯域幅、隣接チャネル漏洩電力比などの指標をマーキング機能で即時に算出し、ワンクリック設定とリアルタイム更新によって効率的な評価を実現します。

超広帯域カバレッジによりマイクロンスケールの時間領域解析が可能で、小型チップパッケージの試験における不連続点の位置特定課題を解決します。単一ビュー内で時間領域・周波数領域解析を同時に実行でき、インピーダンス不連続、反射、クロストークの発生源を迅速に特定可能です。伝送線路のインピーダンス特性を高精度に測定でき、近端／遠端クロストーク測定により複数伝送線路間の影響評価も容易です。また、ネットワークパラメータに基づく仮想アイダイアグラム生成と解析機能を搭載しており、高速デジタル通信規格に応じたアイマップテンプレートを用いた効率的な合否判定を実現します。ジッタ、ノイズなどの干渉条件を加えたシミュレーションが行え、プリエンファシスやイコライゼーションなどの補正アルゴリズム適用により、高速リンク内の任意位置におけるアイパターンを評価できます。

パッケージ化マイクロ波デバイスやオンチップデバイスなど、ベクトルネットワークアナライザへ直接接続できない非標準コネクタデバイスの測定課題を解決します。通常は治具（フィクスチャ）を介して接続する必要がありますが、フィクスチャ自体が測定誤差を生じさせる場合があります。本機能ではフィクスチャのパラメータを抽出・保存し、デエンベッド処理を自動適用することで、被試験デバイス本来の特性を高精度に取得できます。