特長
主な特長
・変調周波数範囲:10 MHz~67 GHz
・周波数分解能:最小 1 Hz
・周波数レンジ、周波数ステップ、IF帯域幅を柔軟に設定可能
・広帯域ハードウェア最適化設計とコア校正アルゴリズムにより、ワンクリックで高速スイープ試験が可能
・主な測定機能:帯域幅測定、振幅-周波数特性、位相-周波数特性、群遅延特性、E/O、O/E、O/OデバイスのSパラメータ測定
・主な用途:E/Oデバイス:光変調器、直接変調レーザ、光伝送モジュール、O/Eデバイス:PIN受光器、APD受光器、光受信素子、
O/Oデバイス:光ファイバフィルタなどの受動光部品
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6433シリーズ光波コンポーネントアナライザは、電気-電気(E–E)、電気-光(E–O)、光-電気(O–E)、光-光(O–O)の4つの測定モードを搭載し、各モードを自由に切り替えることができ、Sパラメータ・インピーダンス・時間領域特性など、一般的な光電デバイスの測定に対応します。
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高精度かつフラット応答の内部コア部品を採用し、IF帯域幅を最適設定することで広いダイナミックレンジと低ノイズ測定経路を実現。ユーザーは測定結果からより詳細な情報を取得できます。
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構成を選択することで、シングルエンド-シングルエンドおよびシングルエンド-バランス構成の光送信・受信デバイスの差動利得および共通モード除去比(CMRR)測定に対応。現行および次世代の高速光通信分野における多ポートデバイス測定に最適です。
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広ダイナミックレンジ光パワーメータを内蔵し、入力光パワーをリアルタイムで監視可能。光源モジュールは偏波保持レーザ出力(CWモード)設定が可能で、消光比は20dBを超え、LiNbO₃型M-Z変調器用の偏波保持レーザ光源を供給します。
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電気-光デバイス(E/O)試験では、光変調器や直接変調レーザなどにおいてS₁₁・S₂₁パラメータ試験時にマルチウィンドウ比較解析を行い、反射特性および透過特性を迅速に取得できます。
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強力な位相-周波数特性測定機能により、光電子デバイスの位相特性および群遅延特性を迅速に測定・解析可能です。
価格・仕様
■ 技術仕様(Technical Specifications)
| 項目 | 6433D | 6433F | 6433H | 6433L |
|---|---|---|---|---|
| 変調周波数範囲 | 10 MHz ~ 26.5 GHz | 10 MHz ~ 43.5 GHz | 10 MHz ~ 50 GHz | 10 MHz ~ 67 GHz |
| 周波数精度 | ±1×10⁻⁷ | ±1×10⁻⁷ | ±1×10⁻⁷ | ±1×10⁻⁷ |
| 周波数分解能 | 1 Hz | 1 Hz | 1 Hz | 1 Hz |
| 動作波長 | 1310±20 nm、1550±20 nm | 1310±20 nm、1550±20 nm | 1310±20 nm、1550±20 nm | 1310±20 nm、1550±20 nm |
| 平均出力光パワー範囲 | −2 dBm~+4 dBm |
−2 dBm~+4 dBm −2 dBm~+5 dBm |
−2 dBm~+4 dBm −2 dBm~+5 dBm |
−2 dBm~+4 dBm −2 dBm~+5 dBm |
| 最大安全平均入力光パワー | 入力1:+7 dBm 入力2:+17 dBm |
入力1:+7 dBm 入力2:+17 dBm |
入力1:+7 dBm 入力2:+17 dBm |
入力1:+7 dBm 入力2:+17 dBm |
| 平均出力光パワー精度 | ±0.5 dB | ±0.5 dB | ±0.5 dB | ±0.5 dB |
| 平均入力光パワー測定範囲 | 入力1:−35 dBm~+5 dBm 入力2:−25 dBm~+15 dBm |
入力1:−35 dBm~+5 dBm 入力2:−25 dBm~+15 dBm |
入力1:−35 dBm~+5 dBm 入力2:−25 dBm~+15 dBm |
入力1:−35 dBm~+5 dBm 入力2:−25 dBm~+15 dBm |
| 最小可測周波数応答 | ― | ― | −60 dB | −55 dB |
| 平均入力光パワー測定精度 | ±0.5 dB | ±0.5 dB | ±0.5 dB | ±0.5 dB |
| 相対周波数応答精度 | ±0.7 dB | ±1.6 dB | ±1.6 dB | ±2.2 dB |
| 絶対周波数応答精度 | ±1.8 dB | ±2.0 dB | ±2.5 dB | ±2.7 dB |
| 周波数応答再現性 | ±0.3 dB | ±1.0 dB | ±1.7 dB | ±1.7 dB |
| 群遅延測定精度 | ±13 ps | ±18 ps | ±18 ps | ±31 ps |
| 位相測定精度 | ±3.5° | ±4.2° | ±4.2° | ±6.0° |
| 最大重量 | 56 kg | 60 kg | 60 kg | 63 kg |
| 外形寸法(突起部除く) | 幅×高さ×奥行=421 mm × 400 mm × 600 mm | |||
| 最大消費電力 | 600 W | |||
付属品及びオプション
【本体(メインユニット)】
| モデル | 名称 | 周波数範囲 |
|---|---|---|
| 6433D | 光波コンポーネントアナライザ | 10 MHz ~ 26.5 GHz |
| 6433F | 光波コンポーネントアナライザ | 10 MHz ~ 43.5 GHz |
| 6433H | 光波コンポーネントアナライザ | 10 MHz ~ 50 GHz |
| 6433L | 光波コンポーネントアナライザ | 10 MHz ~ 67 GHz |
【標準付属品】
| No. | 名称 | 説明 |
|---|---|---|
| 1 | 電源コードアセンブリ | 標準三芯電源コード |
| 2 | ユーザーマニュアル | — |
| 3 | 製品証明書 | 適合証明書 |
| 4 | 光ファイバパッチコード(計量グレード) | — |
| 5 | USBケーブル | — |
■ 6433D オプション一覧
| No. | オプション名 | 名称 | 機能/説明 |
|---|---|---|---|
| 1 | 6433D-003 | ノイズフィギュア測定機能 | Sパラメータ、ノイズフィギュア、ノイズパラメータの高精度測定機能。 デュアルポート構成時は「6433D-201+6433D-204」、4ポート構成時は「6433D-401+6433D-404」を選択。 |
| 2 | 6433D-008 | パルス解析機能 | パルス状態でのSパラメータ測定用。 |
| 3 | 6433D-012 | 多機能光波解析装置 | 光電/電気光モジュールの試験データ検証用(10 MHz~26.5 GHz)。 |
| 4 | 6433D-023 | ミキサーベクトル測定機能 | ミキサのベクトルパラメータ測定用。 デュアルポートでは「6433D-204+6433D-S20」、4ポートでは「6433D-404+6433D-S20」が必要。 |
| 5 | 6433D-201 | デュアルポート可変アッテネータ | 送信経路に70 dBアッテネータ×2、受信経路に35 dBアッテネータ×2を搭載。要「6433D-204」。 |
| 6 | 6433D-203 | デュアルポート低周波拡張 | 測定下限周波数を500 Hzまで拡張(要「6433D-204」、ただし「6433D-205」と併用不可)。 |
| 7 | 6433D-204 | デュアルポート試験構成拡張装置 | パネルジャンパによりA、B、R1、R2受信系を独立利用可能に。 |
| 8 | 6433D-205 | デュアルポートTバイアス装置 | 出力ポートにDCバイアスを印加。要「6433D-201+6433D-204」、ただし「6433D-203」と併用不可。 |
| 9 | 6433D-400 | 4ポート測定ユニット | ダブル信号源を備えた4ポート構成。周波数範囲:10 MHz~26.5 GHz。 |
| 10 | 6433D-401 | 4ポート可変アッテネータ | 送信経路70 dB×4、受信経路35 dB×4を構成。要「6433D-400+6433D-404」。 |
| 11 | 6433D-402 | アクティブ相互変調測定機能 | アクティブ相互変調歪信号測定用。要「6433D-400+6433D-404+6433D-S20」。 |
| 12 | 6433D-403 | 4ポート低周波拡張 | 下限周波数を500 Hzまで拡張(要「6433D-400+6433D-404」、ただし「6433D-405」と併用不可)。 |
| 13 | 6433D-404 | 4ポート試験構成拡張装置 | A~D、R1~R4受信系の独立利用を可能に。要「6433D-400」。 |
| 14 | 6433D-405 | 4ポートTバイアス装置 | 各ポートにDCバイアスを印加。要「6433D-400+6433D-401+6433D-404」、ただし「6433D-403」と併用不可。 |
| 15 | 6433D-S05 | Sパラメータ信号品質解析機能 | 周波数/時間領域(TDR・クロストーク)解析と自動レポート作成機能。 |
| 16 | 6433D-S07 | フィクスチャ自動除去機能 | シングルエンドおよびバランスデバイス測定用フィクスチャの自動除去に対応。 |
| 17 | 6433D-S10 | 時間領域測定機能 | デバイスやケーブル内の不連続箇所を特定・解析。 |
| 18 | 6433D-S11 | 高度時間領域解析機能 | TDRインピーダンス試験、アイダイアグラム解析(S11選択でS10不要)。 |
| 19 | 6433D-S16 | 実差動測定機能 | 実際の差動モード・共通モードパラメータ測定。要「6433D-400+6433D-404+6433D-S28」。 |
| 20 | 6433D-S18 | 高速連続波スキャン機能 | FIFOバッファ方式による高速データ読み出し。 |
| 21 | 6433D-S20 | 周波数オフセット測定機能 | 周波数オフセット測定用。 |
| 22 | 6433D-S22 | ミキサスカラー測定機能 | ミキサのスカラパラメータ測定用。要「6433D-S20」。 |
| 23 | 6433D-S24 | 内蔵ローカル発振器アップコンバータ測定 | 内部発振アップコンバータ測定用。要「6433D-204+S20」(4ポート構成時は「404+S20/S22/S23」)。 |
| 24 | 6433D-S26 | 利得圧縮測定機能 | アンプなどアクティブデバイスの利得圧縮特性測定用。 |
| 25 | 6433D-S28 | 位相スキャン測定機能 | 位相スキャン測定機能(要「6433D-400」)。 |
| 26 | 6433D-S30 | 周波数スペクトラム解析機能 | マルチチャネル周波数スペクトル試験用。 |
| 27 | 6433D-EWT1 | 延長保証1年 | 標準保証期間に1年追加(校正除外・片道輸送費のみ含む)。 |
■ 6433F オプション一覧
| No. | オプション名 | 名称 | 機能・説明 |
|---|---|---|---|
| 1 | 6433F-003 | ノイズフィギュア測定機能 | Sパラメータ、ノイズフィギュアおよびノイズパラメータの高精度測定機能。デュアルポート構成時は「6433F-201+6433F-204」、4ポート構成時は「6433F-401+6433F-404」を選択する必要があります。 |
| 2 | 6433F-008 | パルス解析機能 | パルス動作状態下でSパラメータを測定するために設計されています。 |
| 3 | 6433F-011 | OE標準パーツ | 周波数範囲:10 MHz~44 GHz。光電テストモジュールのデータ検証に使用します。 |
| 4 | 6433F-012 | 多機能光波解析装置 | 周波数範囲:10 MHz~44 GHz。光電/電気光モジュールの試験データを検証するために使用します。 |
| 5 | 6433F-023 | ミキサベクトル測定機能 | ミキサのベクトルパラメータを測定します。デュアルポート構成時は「6433F-204+6433F-S20」、4ポート構成時は「6433F-404+6433F-S20」が必要です。 |
| 6 | 6433F-201 | デュアルポート可変ステップアッテネータ | 送信経路に60 dB可変アッテネータ×2、受信経路に35 dB可変アッテネータ×2を構成。使用には「6433F-204」が必要です。 |
| 7 | 6433F-203 | デュアルポート低周波拡張 | 下限周波数を500 Hzまで拡張可能。「6433F-204」が必要ですが、「6433F-205」とは同時に選択できません。 |
| 8 | 6433F-204 | デュアルポート試験構成拡張装置 | パネルジャンパを追加することで、A、B、R1、R2受信器を独立使用できるよう拡張します。 |
| 9 | 6433F-205 | デュアルポートTバイアス装置 | DCバイアス電圧をポート出力へ印加するためのT型バイアスを2系統内蔵。使用には「6433F-201+6433F-204」が必要ですが、「6433F-203」とは同時に選択できません。 |
| 10 | 6433F-400 | 4ポート測定ユニット | ダブル信号源を搭載した4ポート光波コンポーネントアナライザ。周波数範囲:10 MHz~44 GHz。 |
| 11 | 6433F-401 | 4ポート可変ステップアッテネータ | 送信経路に60 dB可変アッテネータ×4、受信経路に35 dB可変アッテネータ×4を構成。使用には「6433F-400+6433F-404」が必要です。 |
| 12 | 6433F-402 | アクティブ相互変調測定機能 | アクティブ相互変調歪信号の測定に使用します。使用には「6433F-400+6433F-404+6433F-S20」が必要です。 |
| 13 | 6433F-403 | 4ポート低周波拡張 | 下限周波数を500 Hzまで拡張可能。「6433F-400+6433F-404」が必要ですが、「6433F-405」とは同時に選択できません。 |
| 14 | 6433F-404 | 4ポート試験構成拡張装置 | パネルジャンパを追加し、A、B、C、D、R1~R4受信器を独立使用可能に拡張。「6433F-400」が必要です。 |
| 15 | 6433F-405 | 4ポートTバイアス装置 | 各ポートにDCバイアス電圧を出力するT型バイアスを4系統内蔵。「6433F-400+6433F-401+6433F-404」が必要ですが、「6433F-403」とは同時に選択できません。 |
| 16 | 6433F-S05 | Sパラメータ信号整合性解析機能 | 周波数領域、時間領域(TDR)およびクロストークなどの信号整合性特性を解析。測定データを自動でレポート化可能です。 |
| 17 | 6433F-S07 | フィクスチャ自動除去機能 | シングルエンドおよびバランスデバイスの自動測定・フィクスチャ除去に対応します。 |
| 18 | 6433F-S10 | 時間領域測定機能 | デバイス、フィクスチャ、ケーブル内の不連続箇所を特定・解析するための時間領域測定機能です。 |
| 19 | 6433F-S11 | 高度時間領域解析機能 | TDR時間領域インピーダンス測定およびアイダイアグラム解析機能を提供。S11を選択するとS10は不要です。 |
| 20 | 6433F-S16 | 実差動測定機能 | 実際の差動モード/共通モード信号における平衡パラメータ測定に使用。「6433F-400+6433F-404+6433F-S28」が必要です。 |
| 21 | 6433F-S18 | 高速連続波スキャン機能 | FIFOバッファ方式を採用し、高速データ読み出しを実現します。 |
| 22 | 6433F-S20 | 周波数オフセット測定機能 | 周波数オフセット測定に使用します。 |
| 23 | 6433F-S22 | ミキサスカラー測定機能 | ミキサのスカラパラメータ測定に使用します。使用には「6433F-S20」が必要です。 |
| 24 | 6433F-S24 | 内蔵ローカル発振アップコンバータ測定機能 | 内部ローカル発振器を持つアップコンバータの測定用。デュアルポート構成では「6433F-204+6433F-S20」、4ポート構成では「6433F-404+6433F-S20」または「6433F-S22/6433F-023」が必要です。 |
| 25 | 6433F-S26 | 利得圧縮測定機能 | アンプなどのアクティブデバイスにおける利得圧縮測定用。 |
| 26 | 6433F-S28 | 位相スキャン測定機能 | 位相スキャン測定を実行します。「6433F-400」が必要です。 |
| 27 | 6433F-S30 | 周波数スペクトラム解析機能 | マルチチャネル周波数スペクトラムテスト機能を提供します。 |
| 28 | 6433F-EWT1 | 延長保証(1年間) | 標準保証期間に加えて1年間延長可能。2年間延長も選択可。校正は含まず、輸送は片道分を含みます。 |
■ 6433H オプション一覧
| No. | オプション名 | 名称 | 機能・説明 |
|---|---|---|---|
| 1 | 6433H-003 | ノイズフィギュア測定機能 | Sパラメータ、ノイズフィギュアおよびノイズパラメータの高精度測定を行う機能です。デュアルポート構成時は「6433H-201+6433H-204」、4ポート構成時は「6433H-401+6433H-404」を選択する必要があります。 |
| 2 | 6433H-008 | パルス解析機能 | パルス状態でSパラメータを測定するために設計されています。 |
| 3 | 6433H-011 | OE標準パーツ | 周波数範囲:10 MHz~50 GHz。光電テストモジュールのデータ検証に使用します。 |
| 4 | 6433H-012 | 多機能光波解析装置 | 周波数範囲:10 MHz~50 GHz。光電/電気光モジュールの試験データを検証するために使用します。 |
| 5 | 6433H-023 | ミキサベクトル測定機能 | ミキサのベクトルパラメータ測定用。デュアルポート構成では「6433H-204+6433H-S20」、4ポート構成では「6433H-404+6433H-S20」が必要です。 |
| 6 | 6433H-201 | デュアルポート可変ステップアッテネータ | 送信経路に60 dB可変アッテネータ×2、受信経路に35 dB可変アッテネータ×2を構成します。使用には「6433H-204」が必要です。 |
| 7 | 6433H-203 | デュアルポート低周波拡張 | 測定下限周波数を500 Hzまで拡張します。「6433H-204」が必要ですが、「6433H-205」とは同時に選択できません。 |
| 8 | 6433H-204 | デュアルポート試験構成拡張装置 | パネルジャンパを追加することで、A、B、R1、R2受信ポートを独立して使用できるよう拡張します。 |
| 9 | 6433H-205 | デュアルポートTバイアス装置 | DCバイアス電圧をポート出力に供給するためのT型バイアスを2系統内蔵。使用には「6433H-201+6433H-204」が必要ですが、「6433H-203」とは同時に選択できません。 |
| 10 | 6433H-400 | 4ポート測定ユニット | ダブル信号源を搭載した4ポート光波コンポーネントアナライザ。周波数範囲:10 MHz~50 GHz。 |
| 11 | 6433H-401 | 4ポート可変ステップアッテネータ | 送信経路に60 dB可変アッテネータ×4、受信経路に35 dB可変アッテネータ×4を構成。使用には「6433H-400+6433H-404」が必要です。 |
| 12 | 6433H-402 | アクティブ相互変調測定機能 | アクティブ相互変調歪信号を測定します。使用には「6433H-400+6433H-404+6433H-S20」が必要です。 |
| 13 | 6433H-403 | 4ポート低周波拡張 | 下限周波数を500 Hzまで拡張。「6433H-400+6433H-404」が必要ですが、「6433H-405」とは同時に選択できません。 |
| 14 | 6433H-404 | 4ポート試験構成拡張装置 | パネルジャンパを追加し、A、B、C、D、R1~R4受信ポートを独立して使用可能にします。使用には「6433H-400」が必要です。 |
| 15 | 6433H-405 | 4ポートTバイアス装置 | 各ポート出力にDCバイアス電圧を供給するためのT型バイアスを4系統内蔵。使用には「6433H-400+6433H-401+6433H-404」が必要ですが、「6433H-403」とは同時に選択できません。 |
| 16 | 6433H-S05 | Sパラメータ信号整合性解析機能 | 周波数領域・時間領域(TDR)・クロストークなどの信号整合性特性を解析し、グラフ結果を自動的にレポート化します。 |
| 17 | 6433H-S07 | フィクスチャ自動除去機能 | シングルエンドおよびバランスデバイスの自動測定およびフィクスチャ除去を行う機能です。 |
| 18 | 6433H-S10 | 時間領域測定機能 | デバイス、フィクスチャ、ケーブル内の不連続箇所を特定・解析するための時間領域測定機能です。 |
| 19 | 6433H-S11 | 高度時間領域解析機能 | TDR時間領域インピーダンス試験およびアイダイアグラム解析機能を提供。S11を選択した場合、S10は不要です。 |
| 20 | 6433H-S16 | 実差動測定機能 | 差動モードおよび共通モードのバランスパラメータ測定に使用します。「6433H-400+6433H-404+6433H-S28」が必要です。 |
| 21 | 6433H-S18 | 高速連続波スキャン機能 | FIFOバッファ方式によりデータを即時読み出し可能とします。 |
| 22 | 6433H-S20 | 周波数オフセット測定機能 | 周波数オフセット測定に使用します。 |
| 23 | 6433H-S22 | ミキサスカラー測定機能 | ミキサのスカラパラメータを測定します。使用には「6433H-S20」が必要です。 |
| 24 | 6433H-S24 | 内蔵ローカル発振アップコンバータ測定機能 | 内蔵ローカル発振器を備えたアップコンバータの測定を行います。デュアルポート構成では「6433H-204+6433H-S20」、4ポート構成では「6433H-404+6433H-S20」または「6433H-S22/6433H-023」が必要です。 |
| 25 | 6433H-S26 | 利得圧縮測定機能 | アンプなどのアクティブデバイスのゲイン圧縮特性を測定します。 |
| 26 | 6433H-S28 | 位相スキャン測定機能 | 位相スキャン測定を実行します。使用には「6433H-400」が必要です。 |
| 27 | 6433H-S30 | 周波数スペクトラム解析機能 | マルチチャネル周波数スペクトラム測定機能を提供します。 |
| 28 | 6433H-EWT1 | 延長保証(1年間) | 標準保証期間に1年間延長可能。2年間延長も選択可能。校正は含まず、片道輸送費を含みます。 |
■ 6433L オプション一覧
| No. | オプション名 | 名称 | 機能・説明 |
|---|---|---|---|
| 1 | 6433L-008 | パルス解析機能 | パルス状態下でのSパラメータ測定を行うために設計されています。 |
| 2 | 6433L-011 | OE標準パーツ | 周波数範囲:10 MHz~67 GHz。光電テストモジュールのデータ検証に使用します。 |
| 3 | 6433L-012 | 多機能光波解析装置 | 周波数範囲:10 MHz~67 GHz。光電/電気光モジュールの試験データを検証するために使用します。 |
| 4 | 6433L-023 | ミキサベクトル測定機能 | ミキサのベクトルパラメータを測定します。デュアルポート構成では「6433L-204+6433L-S20」、4ポート構成では「6433L-404+6433L-S20」が必要です。 |
| 5 | 6433L-201 | デュアルポート可変ステップアッテネータ | 送信経路に50 dB可変アッテネータ×2、受信経路に50 dB可変アッテネータ×2を構成。使用には「6433L-204」が必要です。 |
| 6 | 6433L-203 | デュアルポート低周波拡張 | 下限周波数を500 Hzまで拡張可能。「6433L-204」が必要ですが、「6433L-205」と同時に選択できません。 |
| 7 | 6433L-204 | デュアルポート試験構成拡張装置 | パネルジャンパを追加することで、A、B、R1、R2受信ポートを独立して使用できるように拡張します。 |
| 8 | 6433L-205 | デュアルポートTバイアス装置 | 各ポート出力にDCバイアス電圧を供給するためのT型バイアスを2系統内蔵。使用には「6433L-201+6433L-204」が必要ですが、「6433L-203」とは同時に選択できません。 |
| 9 | 6433L-400 | 4ポート測定ユニット | ダブル信号源を搭載した4ポート光波コンポーネントアナライザ。周波数範囲:10 MHz~67 GHz。 |
| 10 | 6433L-401 | 4ポート可変ステップアッテネータ | 送信経路に50 dB可変アッテネータ×4、受信経路に50 dB可変アッテネータ×4を構成。使用には「6433L-400+6433L-404」が必要です。 |
| 11 | 6433L-402 | アクティブ相互変調測定機能 | アクティブ相互変調歪信号の測定に使用します。使用には「6433L-400+6433L-404+6433L-S20」が必要です。 |
| 12 | 6433L-403 | 4ポート低周波拡張 | 下限周波数を500 Hzまで拡張可能。「6433L-400+6433L-404」が必要ですが、「6433L-405」とは同時に選択できません。 |
| 13 | 6433L-404 | 4ポート試験構成拡張装置 | パネルジャンパを追加し、A、B、C、D、R1~R4受信器を独立して使用可能にします。使用には「6433L-400」が必要です。 |
| 14 | 6433L-405 | 4ポートTバイアス装置 | 各ポート出力にDCバイアス電圧を供給するT型バイアスを4系統内蔵。使用には「6433L-400+6433L-401+6433L-404」が必要ですが、「6433L-403」とは同時に選択できません。 |
| 15 | 6433L-S05 | Sパラメータ信号整合性解析機能 | システムの周波数領域、時間領域(TDR)、クロストークなどの信号整合性特性を解析し、結果を自動的にレポート化します。 |
| 16 | 6433L-S07 | フィクスチャ自動除去機能 | シングルエンドおよびバランスデバイスの自動測定およびフィクスチャ除去を行う機能です。 |
| 17 | 6433L-S10 | 時間領域測定機能 | デバイス、フィクスチャ、ケーブル内の不連続箇所を特定・解析するための時間領域測定機能。 |
| 18 | 6433L-S11 | 高度時間領域解析機能 | TDR時間領域インピーダンス測定およびアイダイアグラム解析を実施可能。S11選択時はS10不要。 |
| 19 | 6433L-S16 | 実差動測定機能 | 実際の差動モードおよび共通モードのバランスパラメータ測定に使用。「6433L-400+6433L-404+6433L-S28」が必要です。 |
| 20 | 6433L-S18 | 高速連続波スキャン機能 | FIFOバッファ方式を採用し、データを即時に読み出します。 |
| 21 | 6433L-S20 | 周波数オフセット測定機能 | 周波数オフセット測定用機能です。 |
| 22 | 6433L-S22 | ミキサスカラー測定機能 | ミキサのスカラパラメータを測定します。使用には「6433L-S20」が必要です。 |
| 23 | 6433L-S24 | 内蔵ローカル発振アップコンバータ測定機能 | 内蔵ローカル発振器を持つアップコンバータの測定用。デュアルポート構成では「6433L-204+6433L-S20」、4ポート構成では「6433L-404+6433L-S20」または「6433L-S22/6433L-023」が必要です。 |
| 24 | 6433L-S26 | 利得圧縮測定機能 | アンプなどのアクティブデバイスの利得圧縮特性を測定します。 |
| 25 | 6433L-S28 | 位相スキャン測定機能 | 位相スキャン測定を実行する機能。「6433L-400」が必要です。 |
| 26 | 6433L-S30 | 周波数スペクトラム解析機能 | マルチチャネル周波数スペクトラムテスト機能を提供します。 |
| 27 | 6433L-EWT1 | 延長保証(1年間) | 標準保証期間を1年間延長。2年間延長も選択可能。校正サービスは含まず、輸送は片道分を含みます。 |
資料
FAQ
CEYEAR製品は購入時の校正書類対応可能ですか?
CEYEAR製品は出荷時有料で3点セット(校正証明書・成績証明書・トレサビリティ体系図)対応可能です。
お見積り金額について、別途お問い合わせしてください。
デモ機の貸出対応は可能でしょうか。
本製品のデモ機を無償で貸出は可能です。
貸出期間は約1週間です。例えば、水曜日お客様着から翌水曜日弊社着まで、祝日を挟む場合、遠方のお客様の場合は、そのぶん考慮させていただきます。
弊社まで返送する際の送料はお客様にご負担いただきます。
ご希望の日程と送り先をお教えください。
製品の保証期間について
本製品の保証期間について、製品のご購入日から製品本体( 3年間)、アクセサリー (1年間)となっております。
非該当証明書の発行について
下記の情報をご提供頂ければ、弊社経由で非該当証明書を発行致します。
型名:
シリアル番号:
購入先(販売店名):
購入日:
輸出元会社名(国内の会社名):
輸出先国名:
輸出先会社名:
輸出目的(例:自社使用、現地販売、技術サポートなど):




