特長
主な特長
・広帯域同軸測定範囲：10 MHz～110 GHz
・周波数分解能：最小 1 Hz
・透過・反射など豊富なパラメータ測定機能を搭載
・多機能統合型操作インターフェース
・ガイド付きキャリブレーションとワンクリック高速スイープ測定
・マルチウィンドウ表示と高速解析機能
・高速データ取得による自動プローブ除去機能
・USB・LANインターフェース対応、SCPIプログラマブルコマンドセットによる自動測定をサポート
-
6433P光コンポーネントアナライザは、電気－電気（E–E）、電気－光（E–O）、光－電気（O–E）、光－光（O–O）の4つの測定モードを搭載し、各モードを自由に切り替えることができ、Sパラメータ・インピーダンス・時間領域特性など、一般的な光電デバイスの測定に対応します。
-
-
-
6433P光波コンポーネントアナライザは、最大64測定チャンネルおよび32測定ウィンドウに対応し、各ウィンドウには最大16本のトレースを同時表示できます。これにより、マルチウィンドウおよびマルチフォーマットでの測定結果表示が可能です。高解像度マルチタッチ静電容量式スクリーンを採用し、直感的で迅速な入力・選択操作を実現。高速かつ効率的なデータ解析をサポートし、ユーザーに新しい光波コンポーネントアナライザの操作体験を提供します。
■自動プローブ除去と高速データ取得
-
6433P光波コンポーネントアナライザは、自動フィクスチャ除去機能により、光チップのSパラメータ測定における課題を迅速に解決します。測定時には高周波プローブをフィクスチャと見なし、自動除去機能によってその時間領域パラメータを測定。信号フロー図を用いて周波数領域パラメータを抽出し、S2Pファイルを生成後、RF部に組み込み、光チップの高精度Sパラメータ測定を実現します。
-
-
-
電気光変調器や直接変調レーザなどの電気光デバイスにおけるS11およびS21パラメータ測定では、マルチウィンドウ表示により周波数ごとの反射および透過特性を迅速に取得できます。
光電デバイス（フォトディテクタ、ROSA、TIA内蔵モジュールなど）のS22およびS21測定では、カーソル機能を使用して3dB帯域を素早く解析し、周波数応答特性を評価可能です。
また、光ファイバフィルタなどの光デバイスのS21測定では、損失および平坦度を迅速に測定できます。
-
光波コンポーネントアナライザは4ポート構成を備え、光送信・受信デバイスの差動利得および共通モード除去比を測定可能です。現行および次世代の高速光通信分野におけるマルチポートパラメータ測定に最適です。
-
-
-
6433P光波コンポーネントアナライザは、プローブステーションおよび高周波プローブとの組み合わせにより、電気光／光電チップの周波数応答パラメータ測定を実現します。
■自動測定機能
-
6433P光波コンポーネントアナライザは、標準SCPIプログラマブルコマンドセットを備え、LANポート経由でのリモート制御に対応します。機器間をネットワークで接続し、コマンドを送信するだけで、温度コントローラ、デジタルソースメータ、被測定デバイスと連携した光チップ自動試験システムを容易に構築できます。
-
価格･仕様
技術仕様
| 項目 | 仕様 |
|---|---|
| 変調周波数範囲 | 10 MHz ～ 110 GHz |
| 周波数精度 | ±1×10⁻⁷ |
| 周波数分解能 | 1 Hz |
| 動作波長 | 1310 ± 20 nm、1550 ± 20 nm |
| 平均出力光パワー範囲 | −2 dBm ～ +3 dBm（1310 nm） −1 dBm ～ +5 dBm（1550 nm） |
| 最大安全平均入力光パワー | +10 dBm |
| 平均出力光パワー精度 | ±0.5 dB |
| 平均入力光パワー測定範囲 | −35 dBm ～ +5 dBm |
| 最小可測周波数応答 | −55 dB |
| 平均入力光パワー測定精度 | ±0.5 dB |
| 相対周波数応答精度 | ±2.7 dB |
| 周波数応答再現性 | ±1.2 dB |
| 位相測定精度 | ±10.8° |
付属品及びオプション
| No. | 名称 | 説明 |
|---|---|---|
| 1 | 6433P Lightwave Component Analyzer | 周波数範囲：10 MHz ～ 110 GHz。 標準構成にはオプション 6433-009, 6433-011, 6433P-S20 の選択が必須です。 |
標準付属品一覧
| No. | 名称 | 説明 |
|---|---|---|
| 1 | 電源コードアセンブリ | 標準3芯電源ケーブル |
| 2 | ユーザーマニュアル | ― |
| 3 | 製品認証書 | 適合証明書（Certificate of Conformance） |
| 4 | 光学基準レベルパッチコード | ― |
| 5 | USBケーブル | ― |
標準オプション
| No. | オプション名 | 名称 | 説明 |
|---|---|---|---|
| 1 | 6433-009 | デュアルポート周波数拡張コントローラ | 6433Pと組み合わせて使用し、ベクトルネットワークアナライザの周波数を拡張してデュアルポート測定を実現します。 |
| 2 | 6433-010 | 4ポート周波数拡張コントローラ | 6433Pと併用し、ベクトルネットワークアナライザの周波数を拡張して4ポート測定機能を実現します。 |
| 3 | 6433-011 | 110GHz同軸拡張ユニット | ベクトルネットワークアナライザの周波数範囲を10 MHz～110 GHzまで拡張し、Sパラメータ測定を可能にします。 デュアルポート構成には2モジュール、4ポート構成には4モジュールが必要です。 デュアルポートLCA構成：6433-009＋6433P-S20、 4ポートLCA構成：6433-010＋6433P-S20＋6433P-400 を選択。 |
オプションアクセサリ
|
No. |
オプション名 |
名称 |
機能・説明 |
|---|---|---|---|
|
1 |
6433P-008 |
パルス解析機能 |
パルス動作状態でのSパラメータ測定用。 |
|
2 |
6433P-011 |
OE標準パーツ |
周波数範囲：10 MHz ～ 110 GHz。光電テストモジュールのデータ検証に使用。 |
|
3 |
6433P-023 |
ミキサベクトル測定機能 |
ミキサのベクトルパラメータを測定します。6433P-204／6433P-404＋6433P-S20 が必要。 |
|
4 |
6433P-201 |
デュアルポート可変ステップアッテネータ |
送信経路に70 dB可変アッテネータ×2、受信経路に35 dB可変アッテネータ×2を構成。使用には 6433P-204 が必要。 |
|
5 |
6433P-203 |
デュアルポート低周波拡張 |
下限周波数を500 Hzまで拡張します。6433P-204 が必要ですが、6433P-205 とは同時に選択不可。 |
|
6 |
6433P-204 |
デュアルポート試験構成拡張装置 |
パネルジャンパ追加により、A・B・R1・R2受信ポートを独立使用可能にします。 |
|
7 |
6433P-205 |
デュアルポートTバイアス装置 |
DCバイアス電圧出力用T型バイアスを2系統内蔵。6433P-201＋6433P-204 が必要ですが、6433P-203 とは同時に選択不可。 |
|
8 |
6433P-400 |
4ポート測定オプション |
4ポート電気チャネルを構成。 6433-010（4ポート拡張モジュール）＋6433-011（110GHz拡張ユニット×4）＋6433P-S20 によりバランス測定が可能。 |
|
9 |
6433P-401 |
4ポート可変ステップアッテネータ |
送信経路70 dB・受信経路35 dBの可変アッテネータを各4系統構成。使用には 6433P-400＋6433P-404 が必要。 |
|
10 |
6433P-402 |
アクティブ相互変調測定機能 |
アクティブ相互変調歪信号の測定用。6433P-400＋6433P-404＋6433P-S20 が必要。 |
|
11 |
6433P-403 |
4ポート低周波拡張 |
下限周波数を500 Hzまで拡張。6433P-400＋6433P-404 が必要だが、6433P-405 とは同時選択不可。 |
|
12 |
6433P-404 |
4ポート試験構成拡張装置 |
パネルジャンパ追加により、A～D、R1～R4ポートを独立使用可能。使用には 6433P-400 が必要。 |
|
13 |
6433P-405 |
4ポートTバイアス装置 |
各ポートにDCバイアス電圧を供給するT型バイアスを4系統内蔵。使用には 6433P-400＋6433P-401＋6433P-404 が必要ですが、6433P-403 とは併用不可。 |
|
14 |
6433P-S05 |
Sパラメータ信号整合性解析機能 |
周波数・時間（TDR）・クロストーク解析を行い、結果を自動でレポート化。 |
|
15 |
6433P-S07 |
フィクスチャ自動除去機能 |
シングルエンド／バランスデバイスの自動測定およびフィクスチャ除去を実行。 |
|
16 |
6433P-S10 |
時間領域測定機能 |
デバイス・治具・ケーブル内の不連続箇所を特定・解析。 |
|
17 |
6433P-S11 |
高度時間領域解析機能 |
TDR時間領域インピーダンス測定およびアイダイアグラム解析機能を提供。 |
|
18 |
6433P-S16 |
実差動測定機能 |
差動モード・共通モードのバランス測定用。6433P-400＋6433P-404＋6433P-S28 が必要。 |
|
19 |
6433P-S18 |
高速連続波スキャン機能 |
FIFOバッファ方式により即時データ読出しを実現。 |
|
20 |
6433P-S20 |
周波数オフセット測定機能 |
周波数オフセット測定に使用。 |
|
21 |
6433P-S22 |
ミキサスカラー測定機能 |
ミキサのスカラパラメータ測定用。6433P-S20 が必要。 |
|
22 |
6433P-S24 |
内蔵ローカル発振アップコンバータ測定機能 |
内蔵ローカル発振器を持つアップコンバータ測定用。デュアルポートでは 6433P-204＋6433P-S20、4ポートでは 6433P-404＋6433P-S20 または 6433P-S22／6433P-023 が必要。 |
|
23 |
6433P-S26 |
利得圧縮測定機能 |
アンプ等のアクティブデバイスのゲイン圧縮測定に使用。 |
|
24 |
6433P-S28 |
位相スキャン測定機能 |
位相スキャン測定用。6433P-400 が必要。 |
|
25 |
6433P-S30 |
周波数スペクトラム解析機能 |
マルチチャネル周波数スペクトラム測定を実現。 |
|
26 |
6433P-EWT1 |
延長保証（1年間） |
標準保証期間に1年延長可。最大2年間延長可能。校正を含まず、片道輸送費を含みます。 |
資料
FAQ
CEYEAR製品は購入時の校正書類対応可能ですか？
CEYEAR製品は出荷時有料で３点セット（校正証明書・成績証明書・トレサビリティ体系図）対応可能です。
お見積り金額について、別途お問い合わせしてください。
デモ機の貸出対応は可能でしょうか。
本製品のデモ機を無償で貸出は可能です。
貸出期間は約1週間です。例えば、水曜日お客様着から翌水曜日弊社着まで、祝日を挟む場合、遠方のお客様の場合は、そのぶん考慮させていただきます。
弊社まで返送する際の送料はお客様にご負担いただきます。
ご希望の日程と送り先をお教えください。
製品の保証期間について
本製品の保証期間について、製品のご購入日から製品本体( 3年間)、アクセサリー (1年間)となっております。
非該当証明書の発行について
下記の情報をご提供頂ければ、弊社経由で非該当証明書を発行致します。
型名：
シリアル番号：
購入先（販売店名）：
購入日：
輸出元会社名（国内の会社名）：
輸出先国名：
輸出先会社名：
輸出目的（例：自社使用、現地販売、技術サポートなど）：