XAU-4C 蛍光X線膜厚計・成分分析計（Si-PIN検出器）

・めっき厚測定
・RoHS検査
・成分分析
・マイクロフォーカス強化型X線発生装置と先進的な光路変換集光システムを搭載、最小測定面積0.03mm²
・非破壊ズーム検出技術と手動ズーム機能により、各種の異形・溝付き部品の非破壊検査が可能、溝の深さ範囲0～30mm
・コアEFPアルゴリズムにより、多層・多元素、同一元素が異なる層にある場合も含めて、素早く正確かつ安定したデータ分析が可能（ネオジム鉄ボロン磁石上のNi/Cu/Ni/FeNdBで、第1層Niと第3層Niの厚さを高精度に検出）
・Si-Pin半導体検出器を搭載、高分解能・高速測定・安定したデータ
・コーティングの分析範囲：リチウムLi（3）～ウランU（92）
・成分分析範囲：硫黄S（16）～ウランU（92）
・4つのコリメータの自動切り替えを標準装備
・微光集光技術を搭載、最短測定距離でのスポットの広がり10%未満

XAU-4Cは一台多用途型分光計で、先進的なEFPアルゴリズムと微光集光技術を採用し、専用厚さ測定器が持つ微小サンプルや溝の膜厚測定性能を維持しつつ、成分分析にも対応しています。

各種製品の品質管理、受入検査、生産工程管理の測定に広く使用されています。

動作温度：15℃～30℃

電源：交流（AC）220V±5V

相対湿度：70%未満、結露なし

消費電力：120W（パソコンを除く）

わかりやすい操作インターフェースのレイアウト：シンプルなレイアウト設計により、オペレーターがソフトウェアの基本操作を素早く習得できます。

プログラムショートカットボタン：日常的なめっきプログラムのショートカットボタンを追加し、プログラムライブラリから選ばなくてもすぐに測定でき、作業効率が向上します。

高精細な可視化ウィンドウ：測定するサンプルの状態を鮮明かつ直感的に観察でき、独自のズーム調整ノブにより、ユーザーにとって最も理想的な観察効果が得られます。

マルチチャンネルデジタルスペクトルインターフェース：測定するサンプルの元素スペクトルを鮮明に表示し、先進的なスペクトル解析技術と組み合わせて、結果を高精度に算出できます。

装置データのリアルタイム監視・データ集計：装置のすべてのデータを一目で確認でき、異常があればシステムが直ちに通知するため、操作ミスを大幅に減らせます。

・貴金属ジュエリー（Rh/Pt/Pd/….）
ジュエリーの貴金属めっきとは、装飾用ジュエリーに施す表面処理の一種です。めっき層は主に保護と装飾の役割を果たします。表面のめっき層は一般に金めっき、K金、プラチナ・ロジウムなどです。めっき層の構造は、内側から外側へ一般に、下地層（アルカリ銅）―光沢層（酸性銅）―封止層（ニッケルまたはパラジウム）―表面層（金、銀、ロジウムなど）となっています。
まず、ジュエリー業界のサンプルは形状が多様で、大きさもさまざまです。また、ジュエリーめっきの中間にある封止層のパラジウムめっきは一般に非常に薄く、ジュエリーの装飾では美観と装飾の必要から、表面の金めっきはさらに純金めっきとK金めっきに分かれます。K金めっき層は成分が複雑で、サンプルの基材や内層の下地層と元素が重なることもあり、測定には高い要求が課されます。
ELITEのXAU-4Cは高分解能のSiPIN検出器を搭載し、各貴金属めっき層の元素を容易に識別できます。さらに先進的なEFPスペクトル解析アルゴリズムにより、表層のK金を剥離計算でき、超薄膜めっき層の測定にも容易に対応できるため、ジュエリー業界の貴金属めっき層の測定に広く使用されています。
・チップ抵抗器（Sn/Ni/Cu/ceramic）
チップ抵抗器（SMD Resistor）は正式名称をチップ固定抵抗器といい、Chip Fixed Resistorを直訳した名称です。耐湿性・耐熱性に優れ、信頼性が高く、外形寸法が均一で、精密かつ温度係数と抵抗値公差が小さいのが特長です。回路のスペースとコストを大幅に節約でき、設計をより精密にできます。
スズめっき層は、チップ抵抗器の表面に優れたはんだ付け性を与えます。スズは良好なはんだ付け材料で、はんだや他の電子部品のはんだ接合部と速やかに融合し、確実な電気的接続を確保します。一方、ニッケルめっき層は電極端子を侵食から保護し、これは電子製品の製造にとって極めて重要です。
ELITE XAU-4C蛍光X線膜厚計・成分分析計は、自社開発のEFPアルゴリズムを搭載し、多層・多元素めっき層の厚さを高精度に測定でき、製品品質を管理して回路の安定性を確保します。