高速差動信号(PCIe, USB4, HDMI 2.1など)の配線インピーダンス管理において、ADL5961のような広帯域VNAフロントエンドを活用することは、まさに「最先端の基板設計」の領域です。

差動信号は2本の配線のバランスが命であるため、測定には**混合モードSパラメータ(Mixed-mode S-parameters)**という考え方が不可欠になります。


1. なぜ「26.5GHz」という帯域が必要なのか

高速デジタル信号は、データレート(Gbps)の半分以上の周波数成分を含んでいます。

  • 例:PCIe Gen5 (32GT/s): 基本周波数は16GHzですが、信号の立ち上がり(エッジ)を正確に捉えるには、その3倍〜5倍の調波、つまり30GHz〜50GHz近くまでの特性が理想的には必要です。

  • ADL5961の役割: 26.5GHzまでの帯域があれば、10〜20Gbpsクラスの差動信号の損失(挿入損失)や、反射(リターンロス)を実用レベルで十分に解析できます。


2. 差動インピーダンス測定の仕組み

ADL5961はシングルエンド(1ポート)のデバイスですが、これを2つ(または4つ)ペアで使うことで、差動ペアの挙動を測定します。

  • 差動インピーダンス(Zdiff): 2本の線が100Ωに保たれているか。

  • コモンモード変換(Scd21): 差動信号がノイズ(コモンモード)に化けていないか。これはEMI(不要輻射)の原因になるため、ICテストや基板検品で最も嫌われる現象です。


3. 基板設計・テストにおける具体的なメリット

① スキュー(Skew)の極小化

2本の配線の長さがわずかにズレるだけで、差動信号は崩れます。ADL5961をプローブヘッドに組み込めば、ミリ波帯の位相差を測定できるため、ピコ秒(ps)単位の配線遅延の差を検出可能です。

② ガラスクロス編み目効果(Fiber Weave Effect)の検出

高周波基板では、基板材のガラス繊維の「網目」の上に配線が乗るか、隙間に乗るかでインピーダンスが変わってしまいます。

  • ADL5961による全数検査: 従来のVNAでは高価すぎて不可能だった「全ラインのインピーダンス・プロファイル自動測定」を、安価なICを並べることで実現できます。

③ TDR(時間領域反射計)への変換

VNAで得られた周波数データ(Sパラメータ)に逆フーリエ変換をかけることで、TDR波形を得られます。これにより、**「基板の端から○mmの地点でインピーダンスが跳ね上がっている(=傷やビアの不連続がある)」**という場所の特定が可能になります。


4. 実装のヒント:評価の壁

高速差動信号をADL5961で測る場合、最大の敵は「コネクタ」と「プローブ」です。

  • 接続の品質: 普通の同軸コネクタ(SMA等)は18GHz程度が限界なことが多いです。26.5GHzまでしっかり測るには、2.92mm(Kコネクタ)や、高性能な高周波プローブが必要になります。

  • 校正キット: 差動測定の場合、2ポート間の同期と校正が重要です。


次のステップとして

もし実際に基板設計やICテストの自動化を検討されているのであれば、**「ADL5961を2ポート構成で制御するリファレンス回路」や、「得られたSパラメータから差動インピーダンスを算出する計算式」**など、より踏み込んだ情報が必要でしょうか?

 

 

https://www.analog.com/jp/resources/media-center/videos/6330305156112.html

出典:Google Gemini

 

 

 

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