次世代のHigh-kマスク(高吸収体マスク)は、高NA EUVリソグラフィにおいて不可欠な技術です。

従来のEUVマスクは、多層膜(Mo/Si)の上にタンタル(Ta)ベースの吸収体で回路パターンを描いていましたが、微細化が進むにつれて「マスク3D効果」という光学的な問題が深刻化しています。High-kマスクは、これを解決するために開発されています。


1. なぜHigh-kマスクが必要なのか?

微細化が進み、光の波長(13.5nm)に近いサイズのパターンを露光するようになると、以下の課題が発生します。

  • マスク3D効果 (M3D Effects): 吸収体(パターン)に厚みがあるため、光が斜めに入射した際に「影」ができたり、位相がずれたりして、ウェハ上での解像度が低下します。

  • 高NA化による入射角の増大: 高NA装置ではレンズの角度が大きくなるため、マスクへの入射角も鋭くなり、影の影響がさらに顕著になります。

2. High-k(高吸収)素材の役割

従来のタンタル(Ta)よりもEUV光の吸収率が高い(消衰係数 k が大きい)素材を使用することで、以下のメリットが得られます。

  • 薄膜化: 吸収効率が高いため、従来(約60nm〜70nm)よりも大幅に薄い膜(約30nm〜45nm以下)で光を遮断できます。

  • 影の低減: 膜が薄くなることで、斜め入射による影の影響が減り、微細なパターンの忠実度が向上します。

  • コントラストの向上: 迷光が減り、像のコントラスト(NILS: Normalized Image Log Slope)が改善されます。


3. 主要な候補材料と課題

2026年現在、実用化に向けて以下の材料が研究・採用されています。

材料 特徴 課題
ルテニウム (Ru) 合金 吸収率が高く、比較的加工しやすい。 マスク洗浄時の耐久性。
白金 (Pt) / タングステン (W) 合金 非常に高い吸収性能を持ち、M3D効果を最小化できる。 エッチング(削り出し)が困難で、微細加工に高度な技術が必要。
ニッケル (Ni) / コバルト (Co) 高い吸収率を持つ金属。 プロセス適合性と安定性。

4. 業界の進展

  • ASML / imec: ベルギーの研究機関imecとASMLの共同ラボにおいて、高NA EUV装置(EXE:5200)とHigh-kマスクを組み合わせたプロセス開発が加速しています(2026年Q4には完全なクオリフィケーションを予定)。

  • マスクメーカー: HOYAやDNP(大日本印刷)などが、次世代のHigh-kブランクス(マスクの基材)や描画技術の開発で世界をリードしています。

補足:フェーズシフトマスクとの組み合わせ

High-k素材は、単に光を遮るだけでなく、光の位相を180度反転させて解像度を高める「アテニュエーテッド位相反転マスク(att-PSM)」としての活用も期待されています。これにより、さらなる微細化(1nm世代以降)への道が拓かれます。

RFSoCでの信号処理やGHz帯の評価など、実務レベルの計測をされている観点からすると、このマスク技術は「信号のS/N比を物理的な光学系でいかに稼ぐか」という、通信のインテグリティ改善に近いアプローチと言えるかもしれません。

 

 

出典:Google Gemini (Gemini は AI であり、間違えることがあります。)

 

 

 

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