高電圧半導体CV特性測定器 TECHMIZE TH51Xシリーズ

• 高バイアス：VGS: 0 – ±40V、VDS: 0 – 200V/1500V/3000V

• インピーダンス測定周波数：1kHz～2MHz、分解能10mHz～

• 4つの寄生パラメータ（Ciss、Coss、Crss、Rg）を同時に表示
• CVカーブスキャン、Ciss-Rgカーブスキャン

• 3つのテスト方法：スポットテスト、リストスキャン、グラフィックスキャン（オプション）
• 統合デザイン：LCR + VGS低電圧源 + VDS高電圧源 + チャンネルスイッチング + PC
• 標準2チャンネルテスト、2つのデバイスまたはデュアルチップデバイスを同時にテスト可能、

　チャンネルは6まで拡張可能、チャンネルパラメータは個別に保存
• 高速充電、コンデンサ充電時間を短縮し、高速テストを可能

• デュアルCPUアーキテクチャ、LCR測定機能の最速テスト速度は0.56ms

• 10.1インチ容量性タッチスクリーン、解像度1280*800、Linuxシステム

• 10ビンソーティング

 

 

 

TH510シリーズ半導体C–V特性アナライザは、最大6チャンネルおよび4つの測定パラメータに対応したテストと解析をサポートします。
リストスキャンモードでは、異なるチャンネル、異なるパラメータ、異なる測定条件の任意の組み合わせに対応し、しきい値の設定と測定結果の表示が可能です。

 

 

 

 

TH510シリーズ半導体C–V特性アナライザは、C–V特性カーブの解析をサポートしており、対数および線形の方法でカーブスキャンを実現できます。また、同一パラメータかつ異なるVgの複数カーブ、同一Vgかつ異なるパラメータの複数カーブを同時に表示することが可能です。

 

パラメータは任意に選択でき、オン/オフの切り替えが可能です。不要なパラメータをオフにすることで、測定時間やデータ転送の効率を向上させることができます。遅延時間は自動または手動で設定可能であり、ゲート抵抗はドレイン-ソース短絡またはドレイン-ソース開放から選択できます。
グラフィカルな設定インターフェースを使用することで、機能パラメータが回路図設定に対応し、一目で確認できます。

 

 

 

 

TECHMIZE社は顧客に対してオープンな設計を採用しており、すべてのインターフェースと命令セットは公開されています。顧客自身で機能の統合やカスタマイズをプログラムすることが可能です。ハードウェアの変更が伴わないカスタム機能であれば、ファームウェアのアップグレードによって直接更新が可能です。
本製品は、豊富な機能、バグ修正、機能拡張などを備えており、工場に返送することなくファームウェアのアップデートで改善・追加が可能です。
ファームウェアのアップグレードは非常にスマートで、システム設定画面やファイル管理画面から実行できます。装置内部のメモリ、外部USBフラッシュドライブ、またはローカルネットワーク内のアップグレードパッケージを自動で検索し、アップグレードを実行します。