製品名
XDS4000シリーズ ベンチトップ・デジタル・オシロスコープ(型番:XDS4352, 350MHz, 2CH)
価格
387,530円(税込)
型番
XDS4352
メーカー
概要
XDS4000シリーズ デジタル・オシロスコープ
+ 7種の測定機能を1台に統合: オシロスコープ、波形発生器、マルチメーター(オプション)、FFTスペクトラム解析、周波数カウンタ、プロトコル解析(オプション)、周波数応答解析
+ 周波数帯域: 350MHz, 500MHz
+ サンプルレート: 最高 5Gサンプル/秒
+ レコード長: 400M
+ 波形更新レート: 最高 600,000波形/秒、低い頻度の異常信号でも観測しやすい
+ 波形発生器(最高50MHz, 1チャンネル)を標準搭載
+ 波形複製機能: オシロスコープで取り込んだ波形を、波形発生器から出力することが可能
+ 多様なトリガ
+ 周波数応答解析機能を標準搭載
+ オプション機能: マルチメータ(データ・ロガー機能含む), プロトコル解析
+ インターフェース: USBホスト, USBデバイス, LAN, VGA
+ SCPIコマンドをサポート
+ 10.4インチ タッチ・スクリーン
モデル |
XDS4352 |
XDS4502 |
XDS4354 |
XDS4504 |
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周波数帯域 |
350MHz |
500MHz |
350MHz |
500MHz |
サンプルレート |
最高 5Gサンプル/秒 |
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水平軸スケール |
500ps/div – 1000s/div, step by 1 – 2 – 5 |
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チャンネル数 |
2 |
4 |
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ディスプレイ |
10.4インチ タッチ・スクリーンLCD |
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レコード長 |
400M |
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波形更新レート |
最高 600,000波形/秒 |
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垂直軸スケール |
1MΩ入力 :1mV/div~ 10V/div, 50Ω入力 : 1mV/div ~ 1V/div |
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垂直軸分解能 |
8bits |
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入力インピーダンス |
1MΩ±2% // 15pF±5pF, 50Ω ± 2% |
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入力カップリング |
DC, AC, GND |
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トリガ・タイプ |
Edge, Video, Pulse, Slope, Runt, Windows, Timeout, Nth Edge, Logic, I2C, SPI, RS232, CAN |
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デコード・タイプ(オプション) |
RS232, I2C, SPI, CAN |
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自動測定 |
Period, Frequency, Mean, PK-PK, RMS, Max, Min, Top, Base, Amplitude, Overshoot, Preshoot, Rise Time, Fall Time, +Pulse Width, -Pulse Width, +Duty Cycle, -Duty Cycle, Delay A→B, Delay A→B, Cycle RMS, Cursor RMS, Screen Duty, FRR、FRF、FFR、FFF、LRR、LRF、LFR、LFF、Phase A→B, Phase A→B, +Pulse Count, -Pulse Count, Rise Edge Count, Fall Edge Count, Area, Cycle Area. |
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波形演算 |
+, -, *, / ,FFT, FFTrms, Intg, Diff, Sqrt, User Defined Function, |
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波形保存 |
100波形 |
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インターフェース |
USB Host, USB Device; Trig Out(Pass/Fail); LAN port; VGA port; EXT Trig In |
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寸法 |
422 mm (W)×226 mm (H)×135 mm (D) |
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重量 |
約 5kg (アクセサリーを除く本体のみ) |
波形発生器
最高出力周波数 |
50MHz |
サンプルレート |
250Mサンプル/秒 |
チャンネル数 |
1 |
分解能 |
14bits |
振幅範囲 |
2mVpp – 5Vpp(≦50MHz); 2mVpp – 20Vpp(≦25MHz) |
任意波形長 |
16k |
出力可能な波形 |
Sine, Square, Pulse, Ramp, Exponential Rise, Exponential Fall, Sin(x)/x, Step Wave, Noise, そのほか計64種のビルトイン波形, ユーザー定義任意波形 |
マルチメーター(オプション)
分解能 |
4½ 桁 |
オート・レンジ |
√ |
測定モード |
電圧, 電流, キャパシタンス, 抵抗, 周波数, デューティー比, 導通, ダイオード・テスト |