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- GaN/SiCデバイスのC–V測定とは
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GaN/SiCデバイスのC–V測定とは ～次世代パワーデバイスの電気特性を非破壊で評価する基本手法～ ■ 定…
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- 寄生パラメータ Ciss、Coss、Crss、Rg
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パワーMOSFET、SiC、GaNなどの半導体デバイスにおいて、Ciss、Coss、Crss、Rgは寄生パラメータと呼ばれ…
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- 半導体CV特性アナライザとは？
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半導体CV特性アナライザとは？ 〜容量-電圧特性の測定でデバイス構造を可視化〜 CV特性とは何か？ CV特…
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- インピーダンスアナライザとは？
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インピーダンスアナライザとは？ 電子部品や材料の特性評価に欠かせない測定器 インピーダンスアナラ…
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- 表面マイクロストリップラインの特性インピーダンスを計算する…
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表面マイクロストリップラインの特性インピーダンスを計算する方法は、いくつかのパラメータに基づいて…
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- コンデンサ COG や NPO の誘電体とは
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コンデンサの「COG」や「NPO」は、積層セラミックコンデンサ（MLCC）の誘電体の特性を表す規格です。こ…
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- 帰還回路にチョークとバッファによるEMC対策法
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帰還回路にチョークとバッファを組み合わせてEMC対策を行う方法は、主に以下のような目的で行われます。…
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- デジタルICのトーテム・ポール出力段
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デジタルICのトーテム・ポール出力段におけるEMC（電磁両立性）対策について トーテム・ポール出力段は…
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- コンデンサの自己共振 自己共振周波数 (SRF)
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コンデンサの自己共振は、EMC（電磁両立性）対策において非常に重要な要素です。理想的なコンデンサは周…
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- XコンデンサとYコンデンサ
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XコンデンサとYコンデンサは、EMC（電磁両立性）対策において、電源ラインのノイズフィルタリングに不可…
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- RFバイパス（デカップリング）
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RFバイパス（デカップリング）は、RF回路や高速デジタル回路におけるEMC（電磁両立性）対策の重要な要素…
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- 電源のデカップリング
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デカップリング、電源インピーダンス、EMC対策は、電子回路の安定した動作とノイズ対策において密接に関…
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- コンデンサの自己共振周波数 (SRF) 測定方法
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コンデンサの自己共振周波数（SRF: Self-Resonant Frequency）は、コンデンサがその容量だけでなく、寄…
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- 固体タンタル・コンデンサはdV/dt が高過ぎると短絡を起こす
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固体タンタルコンデンサは、dV/dt（時間あたりの電圧変化率）が急峻すぎると、短絡（ショート）を起こす…
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- MOSキャパシタのゲート酸化膜のC-V特性評価 における周波数設定
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MOSキャパシタのゲート酸化膜のC-V特性評価では、高周波数と低周波数の両方で測定を行うのが一般的です。…
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- インピーダンスアナライザの等価回路パラメータとは？
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インピーダンスアナライザの等価回路パラメータとは、測定したインピーダンス（交流における抵抗）の実…
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- LCRメーターとは？
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LCRメーターとは？ 電子部品の基本特性を測るための必須測定器 LCRメーターの概要 LCRメーターは、…