TECHMIZE TH2829Xシリーズ自動トランス・テスト・システム 20Hz～200kHz、20ピン

特長

■製品仕様： 20Pin、確度: 0.05%、テスト周波数: 20Hz-200kHz、 7インチLCD、 DCバイアス電流源: ±100mA、手動治具

価格495,000円〜税込

Accessories name

Pneumatic transformer scanning test fixture

Manual transformer scan test fixture

アプリケーション

■ スイッチングトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析。

■ ネットワークトランスフォーマのスキャンテスト、総合的な特性分析

■ 離散なパッシブコンポーネント（L、R、C）のマルチチャンネルスキャンテスト

■ リレードライブラインパッケージ、接触抵抗のマルチチャンネルスキャンテスト

■ マルチチャンネルのDC抵抗（DCR）のスキャンテスト

■ インピーダンスネットワーク内の複数のパッシブコンポーネントの包括的なテスト分析

Specification

Model	TH2829AX	TH2829CX
Test Pin(PIN)	20
Test Frequency	20Hz — 200kHz	20Hz — 1MHz
Display	800×RGB×480 7 inch TFT LCD display
LCR Function	option
Transformer test parameters	Turn Ratio, Turns, Phase, L, C, Lk, Q, ACR, DCR, Balance, Pin Short, Diode P/N
LCR Test Parameters	\|Z\|,Y\|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ, DCR, Turn-Ratio, Phase, Lk
Basic Test Accuracy	LCRZ 0.05%
	DCR, Turn Ratio 0.1%
Signal Source Output Impedance	30Ω, 50Ω, 100Ω
Test Speed (ms/times)	13ms, 90 ms, 370 ms
AC Signal Level	5mVrms — 2Vrms(transformer test, can be customized to 10Vrms), 5mVrms — 10Vrms(LCR function)；50μArms — 100mArms
DC Bias Voltage Source	0V to +/-10V, 0mA to +/-100mA
DC Bias Current Source	0 — ±1A option(option TH2901) / 0 — ±2A option(option TH2902)
DC Constant Current Source	0mA – ±120mA for diode forward characteristic test
Diode Test	forward test voltage 0-4.0000V
	Reverse test current 0-99.999mA
Comparator	10 bins, PASS/FAIL indication, file counting function
Storage	Internal: 100 sets of configuration file;U disk: 500 sets of configuration files, CSV format test data, GIF format images

Standard
Accessories name	Model
Test line at both ends	TH26004B
Manual transformer scan test fixture	TH1901B
Foot switch	TH1801-001
Transformer test control cable (36 cores) (2H/57S-3036*2/L 1800)	TH26016
Kelvin test lead with box four-terminal insulation and lock	TH26011AS

Specificaion of TH2829X Series.pdf	Download
TH2829X Series Operation Manual V1.6.2.pdf	Download

型番	TH2829AX	TH2829CX
ディスプレイ	800×RGB×480 7 inch TFT LCD display
ストレージ
Internal	100 sets of configuration file
U disk	500 sets of configuration files, CSV format test data, GIF format images
基本確度
LCRZ	0.05%
DCR, Turn Ratio	0.1%
テスト周波数	20Hz — 200kHz	20Hz — 1MHz
テスト・ピン(PIN)	20
コンパレーター	10 bins, PASS/FAIL indication, file counting function
Signal Source Output Impedance	30Ω, 50Ω, 100Ω
Diode Test
forward test voltage	0-9.9999V
LCR機能	オプション
トランス測定パラメータ	Turn Ratio, Turns, Phase, L, C, Lk, Q, ACR, DCR, Balance, Pin Short, Diode P/N
LCR測定パラメータ	\|Z\|,Y\|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ, DCR, Turn-Ratio, Phase, Lk
AC信号レベル	5mVrms — 2Vrms(transformer test, can be customized to 10Vrms), 5mVrms — 10Vrms(LCR function)；50μArms — 100mArms
DCバイアス電圧ソース	0V to +/-10V, 0mA to +/-100mA
DCバイアス電流ソース	0 — ±1A option(option TH2901) / 0 — ±2A option(option TH2902)
DC定電流ソース	0mA – ±120mA for diode forward characteristic test
測定速度 (ms/times)	13ms, 90 ms, 370 ms
ダイオード・テスト
Reverse test current	0-99.999mA