GLOSSARY用語集SEM

• ブレークダウンをSMUで測る

  半導体デバイスにおける「ブレークダウン」を、SMU（Source Measure Unit）を使用して測定・評価する方…

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• GaN/SiCデバイスのC–V測定とは

  GaN/SiCデバイスのC–V測定とは ～次世代パワーデバイスの電気特性を非破壊で評価する基本手法～ ■ 定…

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• 寄生パラメータ　Ciss、Coss、Crss、Rg

  パワーMOSFET、SiC、GaNなどの半導体デバイスにおいて、Ciss、Coss、Crss、Rgは寄生パラメータと呼ばれ…

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• MOSFETのVthの測定方法（SMUを使用して）

  MOSFETのしきい値電圧（Vth）をSMU（Source Measurement Unit）を用いて測定する方法は、MOSFETの特性を…

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• MOSFET オン抵抗測定方法

  MOSFETのオン抵抗（RDS(on)​）をSMU（Source-Measure Unit）で測定する方法について解説します。  …

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• 半導体CV特性アナライザとは？

  半導体CV特性アナライザとは？ 〜容量-電圧特性の測定でデバイス構造を可視化〜 CV特性とは何か？ CV特…

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• ソースメジャーユニット（SMU）とは？

  ソースメジャーユニット（SMU）とは？ 〜高精度な電圧・電流測定とソース機能を一体化した計測器〜 ソー…

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• ソースメジャーユニット（SMU）基本スペック一覧

  ソースメジャーユニット（SMU）基本スペック一覧 項目 内容・説明 出力モード 電圧ソー…

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• ソースメジャーユニット（SMU）入門者向け選定ガイド

  ソースメジャーユニット（SMU）入門者向け選定ガイド 1. SMUとは？ ソースメジャーユニット（SMU）は、…

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• ソースメジャーユニット（SMU）の使い方ガイド

  ソースメジャーユニット（SMU）の使い方ガイド 〜基本操作からアプリケーション例まで〜 SMUとは？その…

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• インピーダンスアナライザとは？

  インピーダンスアナライザとは？ 電子部品や材料の特性評価に欠かせない測定器   インピーダンスアナラ…

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• エレクトロマイグレーション 試験方法　電圧監視法

  エレクトロマイグレーション（EM）試験は、半導体デバイスの信頼性を評価するために不可欠な試験です。…

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• SEM5000A & SSU5000A & SSM5000A From Microwave Jo…

  SEM5000A & SSU5000A & SSM5000A Series Extend SIGLENT Solutions into complex RF Applications…

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• Bipolar／BiCMOS devicesとは

  Bipolar/BiCMOSデバイスとは、バイポーラトランジスタとCMOSトランジスタの両方の特性を一つの集積回路…

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