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- 寄生パラメータ Ciss、Coss、Crss、Rg
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パワーMOSFET、SiC、GaNなどの半導体デバイスにおいて、Ciss、Coss、Crss、Rgは寄生パラメータと呼ばれ…
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- MOSFETのVthの測定方法（SMUを使用して）
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MOSFETのしきい値電圧（Vth）をSMU（Source Measurement Unit）を用いて測定する方法は、MOSFETの特性を…
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- MOSFET オン抵抗測定方法
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MOSFETのオン抵抗（RDS(on)）をSMU（Source-Measure Unit）で測定する方法について解説します。 …
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- ブレークダウンをSMUで測る
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半導体デバイスにおける「ブレークダウン」を、SMU（Source Measure Unit）を使用して測定・評価する方…
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- GaN/SiCデバイスのC–V測定とは
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GaN/SiCデバイスのC–V測定とは ～次世代パワーデバイスの電気特性を非破壊で評価する基本手法～ ■ 定…
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- GaN パルスドId-Vg測定 SMU
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GaN（窒化ガリウム）デバイスの評価において、パルスド Id−Vg 測定は非常に重要な手法です。これは、…
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- 半導体CV特性アナライザとは？
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半導体CV特性アナライザとは？ 〜容量-電圧特性の測定でデバイス構造を可視化〜 CV特性とは何か？ CV特…
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- ソースメジャーユニット（SMU）とは？
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ソースメジャーユニット（SMU）とは？ 〜高精度な電圧・電流測定とソース機能を一体化した計測器〜 ソー…
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ソースメジャーユニット（SMU）基本スペック一覧 項目 内容・説明 出力モード 電圧ソー…
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- ソースメジャーユニット（SMU）入門者向け選定ガイド
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ソースメジャーユニット（SMU）入門者向け選定ガイド 1. SMUとは？ ソースメジャーユニット（SMU）は、…
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- キャリア濃度の測定方法
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半導体のキャリア濃度を測定する方法として、ホール測定が最も一般的です。その他にも、C-V測定、ラマン…
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- ソースメジャーユニット（SMU）の使い方ガイド
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ソースメジャーユニット（SMU）の使い方ガイド 〜基本操作からアプリケーション例まで〜 SMUとは？その…
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- インピーダンスアナライザとは？
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インピーダンスアナライザとは？ 電子部品や材料の特性評価に欠かせない測定器 インピーダンスアナラ…
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- エレクトロマイグレーション 試験方法 電圧監視法
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エレクトロマイグレーション（EM）試験は、半導体デバイスの信頼性を評価するために不可欠な試験です。…
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- ICのマスク縮小によるEMC問題
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ICのマスク縮小によるEMC問題。これは、半導体技術の進化に伴う重要な課題です。 ICのマスク縮小、つま…
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- エレクトロメータでCV測定はできますか？
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エレクトロメータでCV測定はできます。 ただし、LCRメーターのような交流信号でのC-Vメーターとは測定…
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- エレクトロメータとは？
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エレクトロメータは、非常に小さな電流や電荷を正確に測定できる高感度な測定器です。特に、半導体デバ…