TECHMIZE TH2838シリーズ LCRメーター 20Hz～1MHz

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、現在世界で最も先進的な自動バランスブリッジ理論を採用した新世代のインピーダンステスターです。基本精度は0.05％で、速度は5.6ミリ秒まで、周波数範囲は20Hzから2MHz、インピーダンステスト範囲は1GΩまで対応しており、この新しいインピーダンステスターは、特に低いD値を持つコンデンサや高いQ値を持つインダクタのテスト要求に応えることができます。四端子対構成は、テストケーブルの電磁結合の影響を排除し、低インピーダンステストの下限を、五対構成のテスターよりも10倍拡張します。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、20V ACテスト信号と40V DCバイアスをサポートし、新たに追加された改良された多重パラメータリストスイープ/グラフィック分析は、顧客がコンポーネントの総合評価能力を拡張するのに役立ちます。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、電子部品の設計、検査、品質管理、および生産テストに強力なツールです。その優れた性能と機能は、回路設計と開発、および材料（電子材料と非電子材料）の研究開発に強力なツールを提供します。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、IECやMILなどの商業標準と軍事標準のさまざまなテストを実現できます。

パッシブコンポーネント

コンデンサ、インダクタ、磁性コア、抵抗器、圧電デバイス、トランスフォーマ、チップコンポーネント、ネットワークコンポーネントのインピーダンスパラメータの推定と性能分析

半導体コンポーネント

LEDドライバ集積回路の寄生パラメータのテストと分析、バラクタのC-VDC特性の分析、トランジスタまたは集積回路の寄生パラメータの分析

その他のコンポーネント

プリント基板、リレー、スイッチ、ケーブル、バッテリのインピーダンス評価

誘電体材料

プラスチック、セラミックスなどの材料の誘電率と損失角の評価

磁性材料

フェライト、非晶質体などの磁性材料の磁気透磁率と損失角の評価

半導体材料

半導体材料の誘電率、電気伝導率、およびC-V特性

液晶セル

液晶セルの誘電率、弾性定数、およびC-V特性の評価

■ TH2838/TH2838H/TH2838Aは、現在世界で最も先進的な自動バランスブリッジ理論を採用した新世代のインピーダンスアナライザです。基本精度は0.05％で、速度は5.6ミリ秒まで、周波数範囲は20Hzから2MHz、インピーダンステスト範囲は1GΩまで対応しており、この新しいインピーダンステスターは、特に低いD値を持つコンデンサや高いQ値を持つインダクタのテスト要求に応えることができます。四端子対構成は、テストケーブルの電磁結合の影響を排除し、低インピーダンステストの下限を、五対構成のテスターよりも10倍拡張します。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、20V ACテスト信号と40V DCバイアスをサポートし、新たに追加された改良された多重パラメータリストスイープ/グラフィック分析は、顧客がコンポーネントの総合評価能力を拡張するのに役立ちます。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、電子部品の設計、検査、品質管理、および生産テストに強力なツールです。その優れた性能と機能は、回路設計と開発、および材料（電子材料と非電子材料）の研究開発に強力なツールを提供します。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、IECやMILなどの商業標準と軍事標準のさまざまなテストを実現できます。

■ アプリケーション

1. パッシブコンポーネントコンデンサ、インダクタ、磁性コア、抵抗器、圧電デバイス、トランスフォーマ、チップコンポーネント、ネットワークコンポーネントのインピーダンスパラメータの推定と性能分析

2. 半導体コンポーネントLEDドライバ統合回路の寄生パラメータのテストと分析、バラクタのC-VDC特性の分析、トランジスタまたは統合回路の寄生パラメータの分析

3. その他のコンポーネントプリント基板、リレー、スイッチ、ケーブル、バッテリのインピーダンス評価

4. 誘電体材料プラスチック、セラミックスなどの材料の誘電率と損失角の評価

5. 磁性材料フェライト、非晶質体などの磁性材料の磁気透磁率と損失角の評価

6. 半導体材料半導体材料の誘電率、電気伝導率、およびC-V特性

7. 液晶セル液晶セルの誘電率、弾性定数、およびC-V特性の評価

Specifications

Accessary

Standard
Accessories name	Model
Four-end clamp with card	TH26005C
Short circuit	TH26010
Kelvin test lead with box four-terminal insulation and lock	TH26011BS

Optional
Accessories name	Model
Box patch test cable	TH26009B
Magnetic ring fixture	TH26008A
Dielectric test fixture	TH26077

Downloads

■ TH2838/TH2838H/TH2838Aは、現在世界で最も先進的な自動バランスブリッジ理論を採用した新世代のインピーダンステスターです。基本精度は0.05％で、速度は5.6ミリ秒まで、周波数範囲は20Hzから2MHz、インピーダンステスト範囲は1GΩまで対応しており、この新しいインピーダンステスターは、特に低いD値を持つコンデンサや高いQ値を持つインダクタのテスト要求に応えることができます。四端子対構成は、テストケーブルの電磁結合の影響を排除し、低インピーダンステストの下限を、五対構成のテスターよりも10倍拡張します。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、20V ACテスト信号と40V DCバイアスをサポートし、新たに追加された改良された多重パラメータリストスイープ/グラフィック分析は、顧客がコンポーネントの総合評価能力を拡張するのに役立ちます。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、電子部品の設計、検査、品質管理、および生産テストに強力なツールです。その優れた性能と機能は、回路設計と開発、および材料（電子材料と非電子材料）の研究開発に強力なツールを提供します。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、IECやMILなどの商業標準と軍事標準のさまざまなテストを実現できます。

■ アプリケーション

1. パッシブコンポーネント

2. コンデンサ、インダクタ、磁性コア、抵抗器、圧電デバイス、トランスフォーマ、チップコンポーネント、ネットワークコンポーネントのインピーダンスパラメータの推定と性能分析

3. 半導体コンポーネント

4. LEDドライバ統合回路の寄生パラメータのテストと分析、バラクタのC-VDC特性の分析、トランジスタまたは統合回路の寄生パラメータの分析

5. その他のコンポーネント

6. プリント基板、リレー、スイッチ、ケーブル、バッテリのインピーダンス評価

7. 誘電体材料

8. プラスチック、セラミックスなどの材料の誘電率と損失角の評価

9. 磁性材料

10. フェライト、非晶質体などの磁性材料の磁気透磁率と損失角の評価

11. 半導体材料

12. 半導体材料の誘電率、電気伝導率、およびC-V特性

13. 液晶セル

14. 液晶セルの誘電率、弾性定数、およびC-V特性の評価

Specifications

Accessary

Standard
Accessories name	Model
Four-end clamp with card	TH26005C
Short circuit	TH26010
Kelvin test lead with box four-terminal insulation and lock	TH26011BS

Optional
Accessories name	Model
Box patch test cable	TH26009B
Magnetic ring fixture	TH26008A
Dielectric test fixture	TH26077

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■ TH2838/TH2838H/TH2838Aは、現在世界で最も先進的な自動バランスブリッジ理論を採用した新世代のインピーダンステスターです。基本精度は0.05％で、速度は5.6ミリ秒まで、周波数範囲は20Hzから2MHz、インピーダンステスト範囲は1GΩまで対応しており、この新しいインピーダンステスターは、特に低いD値を持つコンデンサや高いQ値を持つインダクタのテスト要求に応えることができます。四端子対構成は、テストケーブルの電磁結合の影響を排除し、低インピーダンステストの下限を、五対構成のテスターよりも10倍拡張します。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、20V ACテスト信号と40V DCバイアスをサポートし、新たに追加された改良された多重パラメータリストスイープ/グラフィック分析は、顧客がコンポーネントの総合評価能力を拡張するのに役立ちます。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、電子部品の設計、検査、品質管理、および生産テストに強力なツールです。その優れた性能と機能は、回路設計と開発、および材料（電子材料と非電子材料）の研究開発に強力なツールを提供します。

TH2838/TH2838H/TH2838Aは、IECやMILなどの商業標準と軍事標準のさまざまなテストを実現できます。

■ アプリケーション

1. パッシブコンポーネントコンデンサ、インダクタ、磁性コア、抵抗器、圧電デバイス、トランスフォーマ、チップコンポーネント、ネットワークコンポーネントのインピーダンスパラメータの推定と性能分析

2. 半導体コンポーネントLEDドライバ統合回路の寄生パラメータのテストと分析、バラクタのC-VDC特性の分析、トランジスタまたは統合回路の寄生パラメータの分析

3. その他のコンポーネントプリント基板、リレー、スイッチ、ケーブル、バッテリのインピーダンス評価

4. 誘電体材料プラスチック、セラミックスなどの材料の誘電率と損失角の評価

5. 磁性材料フェライト、非晶質体などの磁性材料の磁気透磁率と損失角の評価

6. 半導体材料半導体材料の誘電率、電気伝導率、およびC-V特性

7. 液晶セル液晶セルの誘電率、弾性定数、およびC-V特性の評価

Specifications

Accessary

Standard
Accessories name	Model
Four-end clamp with card	TH26005C
Short circuit	TH26010
Kelvin test lead with box four-terminal insulation and lock	TH26011BS

Optional
Accessories name	Model
Box patch test cable	TH26009B
Magnetic ring fixture	TH26008A
Dielectric test fixture	TH26077

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