印加電圧（Test Voltage）とは
～試験対象に意図的に加える電圧条件～
■ 定義
印加電圧（Test Voltage）とは、電子部品・回路・絶縁体・センサなどの試験や測定時に、外部から意図的に加えられる電圧のことを指します。
これは製品の特性評価、安全確認、品質検査などのために設定され、直流（DC）または交流（AC）、パルスや周波数可変信号として与えられる場合もあります。
■ 主な用途
分野 | 印加電圧の目的 |
|---|---|
絶縁耐圧試験 | 絶縁が所定の電圧で破壊しないことを確認 |
静電容量測定（C-V） | バイアス電圧の変化に対する容量変化の追跡 |
LCR測定 | AC信号を印加し、ZやL・C・Rなどの値を評価 |
MOS構造評価 | ゲートバイアス電圧を変えてしきい値電圧などを測定 |
電源評価 | 負荷に定電圧を印加し、出力応答や効率を測定 |
■ 印加電圧の種類
種類 | 説明 |
|---|---|
DC印加電圧 | 直流バイアスとして使用、MOS構造やC-V測定に最適 |
AC印加電圧 | インピーダンス測定や高周波特性評価に使用 |
パルス電圧 | スイッチング応答や瞬間耐圧の試験などに使用 |
ステップ電圧 | 過渡応答解析に適用（例：Bodeプロット、ステップ応答） |
■ 印加電圧に関する仕様項目（例）
項目 | 説明 |
|---|---|
最大印加電圧 | 製品に安全に加えられる最大電圧 |
分解能 | 印加電圧を設定できる最小ステップ幅 |
安定度 | 設定値と実際の出力電圧の誤差範囲 |
過電圧保護 | 設定値を超えた際に自動遮断される機能 |
■ 関連する装置例（T&M取扱製品）
製品カテゴリ | 印加電圧の役割 |
|---|---|
半導体C–V特性測定器 | ゲート電圧の掃引印加（±40Vなど）で容量変化を測定 |
LCRメーター / インピーダンスアナライザ | 数mV～数VのAC信号でZ, R, L, Cを測定 |
耐電圧試験機（Hipot） | 1kV～10kV以上の高電圧を一時的に印加して絶縁を検証 |
ソースメジャーユニット（SMU） | 精密なDC電圧印加と電流測定を同時に実施 |
■ まとめ
項目 | 内容 |
|---|---|
定義 | 評価や試験のために外部から与える制御された電圧 |
分類 | DC、AC、パルス、ステップ等の形式に分かれる |
主な用途 | 絶縁評価、電気特性測定、MOS・パッシブ素子の評価など |
T&M対応 | CV測定器、LCRメーター、SMU、耐電圧試験機などで広範囲をカバー |
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