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- エレクトロメータでCV測定はできますか?
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エレクトロメータでCV測定はできます。 ただし、LCRメーターのような交流信号でのC-Vメーターとは測定…
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- エレクトロメータとは?
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エレクトロメータは、非常に小さな電流や電荷を正確に測定できる高感度な測定器です。特に、半導体デバ…
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- MOSキャパシタのゲート酸化膜のC-V特性評価 における周波数設定
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MOSキャパシタのゲート酸化膜のC-V特性評価では、高周波数と低周波数の両方で測定を行うのが一般的です。…
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- STT-MRAMとは
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STT-MRAMは、スピン移行トルク磁気抵抗メモリ(Spin-Transfer Torque Magnetic Random-Access M…
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- インピーダンスアナライザの等価回路パラメータとは?
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インピーダンスアナライザの等価回路パラメータとは、測定したインピーダンス(交流における抵抗)の実…
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- MOSFET サブスレッショールド特性
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MOSFETのサブスレ…
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- SOT-MRAM(スピン軌道トルク磁気抵抗メモリ)とは
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SOT-MRAM(スピン軌道トルク磁気抵抗メモリ)は、不揮発性メモリであるMRAMの一種です。特に…
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- GaN(窒化ガリウム)半導体とは
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GaN(窒化ガリウム)半導体は、ガリウム(Ga)と窒素(N)から成る化合物半導体です。従来の半導体の主…
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- CMOS/スピントロニクス融合技術とは
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CMOS/スピントロニクス融合技術は、従来のCMOS技術(電荷を利用する半導体技術)に、電子の持つ…
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- 酸化ガリウム(Ga2O3)半導体
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酸化ガリウム(Ga2O3)は、化学式Ga2O3で表される無機化合物で、ワイドギャップ半導体の一種です。…
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- ノーマルモードリジェクション(Normal Mode Rejection)
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「ノーマルモードリジェクション(Normal Mode Rejection)」は、測定器が持つ特定のノイズを抑制する能…
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- 次世代 X-nics 半導体創生とは
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「次世代 X-nics 半導体創生」は、日本政府が推進する「次世代X-nics半導体創生拠点形成事業」を指しま…
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- SiCパワー半導体とは
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SiCパワー半導体は、Si(シリコン)とC(炭素)の化合物である炭化ケイ素(SiC)を主材料とする半導体で…
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- PFASフリーの電子材料
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PFASフリーの電子材料は、環境規制への対応から開発が進んでいます。特に、高い電気特性が求められる電…
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- 二相変調法 (Two-Phase Modulation, TPM) とは
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二相変調法 (Two-Phase Modulation, TPM) とは モーター駆動において、インバーター…
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- エレクトロマイグレーション測定方法
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エレクトロマイグレーション(EM)の測定方法は、主に加速試験とそれに伴う抵抗値のモニタリングが中心…
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- 半導体進化の主軸「パッケージ技術」
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半導体の進化において、パッケージ技術は微細化の限界を補完し、性能向上とコスト削減を実現する重要な…
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- GaNのミリ波帯領域での期待と課題
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窒化ガリウム(GaN)は、特に5G通信システムやレーダーといったミリ波領域のアプリケーションにおいて、…
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- フライングキャパシター線形増幅回路(FCLA:Flying Capacitor …
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フライングキャパシター線形増幅回路(FCLA)は、高効率なリニア増幅器の一種で、スイッチング技術とフ…

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