誘電率の測定には、一般的にインピーダンスアナライザまたはLCRデジタルブリッジを選択する必要があります。

対応するテスト方法としては、平行平板電極法が一般的に採用されています。しかし、このような精密な測定を行う場合、操作には特に慎重さが求められます。

以下ではTECHMIZE社 TH26077 誘電体材料テストフィクスチャとTH2848-05精密インピーダンスアナライザを使用したテストプロセスを紹介します。

 

     

 

 

■事前のサンプル準備


フィクスチャ自体の異なる電極に対して、参考となるサンプル直径を推奨します。


テストサンプルに対して基本的な処理を行う必要があります。図中のサンプルを例にとると、そのサイズが被測定材料の直径要件を満たす円形であり、表面が比較的平坦で滑らかであることを確認します。

サンプルの準備が整ったら、次に機器とフィクスチャのチェックと調整を行います。

     



フィクスチャを垂直に設置し、ブリッジに接続します。すべての白いレンチを右に回して、しっかりと固定します。

     



TH26077の説明書に従ってフィクスチャを接続し、適切な電極を選択します。フィクスチャが正常に動作するか確認します。

 

     

 

 

■テストのゼロ調整とキャリブレーション操作


電極Aと電極Bの平行度を調整する必要があります。

異なるシールド電極の種類に応じて、3つのネジをゆっくり調整し、ブリッジのテスト値が以下の表に合致するようにします。これにより、電極の平行度調整が完了します。

その後、テストをより正確にするため、テストリードとフィクスチャの並列ストレイキャパシタンスやストレイアドミタンスを除去するために、誘電率オープンショートゼロ調整フィクスチャを使用してオープンゼロ調整を行います。また、テストリードとテストフィクスチャの直列残留インピーダンス(リード抵抗など)を除去するために、ショートゼロ調整を行います。

 

     

 

■誘電率の測定


平行度調整とオープンショートゼロ調整が完了したら、実際の測定を開始します。

テスト材料を誘電フィクスチャのAB電極の間に配置します。以下の図を参照してください。

 

     

 

     

 

 

その後、機器上で被測定部品の直径と厚さを設定します。

リスト設定インターフェースで、テストポイント数、トリガー方法、テスト周波数、テストレベルなどのパラメータを変更します。

「Display」キーを押して、リスト表示インターフェースに戻ります。このインターフェースが誘電率の最終的なテストインターフェースです。誘電率のテスト結果はこのインターフェースに表示されます。

 

     

 

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