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- ゲートバイアス(Gate Bias)とは
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ゲートバイアス(Gate Bias)とは ~MOS構造やFETの動作制御に不可欠な電圧パラメータ~ ■ 定義 **ゲ…
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- スイープ機能・ロギング機能とは
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スイープ機能・ロギング機能とは ~電源・SMU・測定器を使いこなすための基礎知識~ スイープ機能(S…
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- CVU(Capacitance–Voltage Unit)とは
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CVU(Capacitance–Voltage Unit)とは ~半導体デバイスのC–V測定に特化した専用測定モジュール~ ■ …
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- C–Vプロファイリング(C–V Profiling)とは
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C–Vプロファイリング(C–V Profiling)とは ~半導体中のドーピング分布や拡散深さを非破壊で評価する解…
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- 酸化膜電荷(Oxide Charge)とは
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酸化膜電荷(Oxide Charge)とは ~MOS構造における電気的特性に大きく影響する固定電荷~ ■ 定義 **…
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- MOSキャパシタ(MOS Capacitor)とは
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MOSキャパシタ(MOS Capacitor)とは ~金属‐酸化膜‐半導体構造を持つ基本的なC–V測定用デバイス~ ■ …
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- 温度依存C–V特性とは
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温度依存C–V特性とは ~温度変化によって変動する半導体デバイスのC–V挙動~ ■ 定義 **温度依存C–V特…
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- ドーピングプロファイル(Doping Profile)とは
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ドーピングプロファイル(Doping Profile)とは ~半導体中の不純物濃度分布を可視化する重要パラメータ…