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酸化膜電荷(Oxide Charge)とは ~MOS構造における電気的特性に大きく影響する固定電荷~ ■ 定義 **…
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MOSキャパシタ(MOS Capacitor)とは ~金属‐酸化膜‐半導体構造を持つ基本的なC–V測定用デバイス~ ■ …
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温度依存C–V特性とは ~温度変化によって変動する半導体デバイスのC–V挙動~ ■ 定義 **温度依存C–V特…
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- ドーピングプロファイル(Doping Profile)とは
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ドーピングプロファイル(Doping Profile)とは ~半導体中の不純物濃度分布を可視化する重要パラメータ…