電子計測・分析機器の専門商社 T&Mコーポレーション株式会社

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  • 南出 泰亜先生 (理化学研究所)
    南出 泰亜(みなみで ひろあき)氏は、国立研究開発法人理化学研究所の光量子工学研究センターにおいて…
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  • 400G SR4 800G
    データセンター内の高速短距離通信における400Gおよび800Gの接続規格は、主にIEEE 802.3(イーサネット…
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  • Panasonic Megtron 7
    ⚡ Panasonic Megtron 7 の概要 Panasonic Megtron 7 は、パナソニックの電子材料部門(パナソニック・…
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  • PTFE基板
    PTFE基板(ピーティーエフイーきばん)とは、PTFE(ポリテトラフルオロエチレン)というフッ素樹脂を絶…
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  • 透明フレキシブル電波反射フィルム
    透明フレキシブル電波反射フィルムについてですね。これは、次世代通信(5G/6Gなど)の電波環境を改善す…
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  • 主要企業の「次世代HI」戦略
    次世代ヘテロジニアス・インテグレーション(HI)の進化は、単なる性能向上を超え、半導体の構造そのも…
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  • チップレット搭載FC-BGA(Flip Chip-Ball Grid Array)
    チップレット技術を用いた**FC-BGA(Flip Chip-Ball Grid Array)**は、現代の高性能プロセッサ(AIアク…
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  • Intelがシリコンフォトニクス光モジュールのビジネスを売却
    Intel(インテル)は2023年後半、シリコンフォトニクス事業のうち**「プラガブル光トランシーバー(モジ…
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  • ゲイン確度とは
    垂直システムが信号の減衰または増幅をどれだけ正確に実行できるかを示し、通常、パーセント誤差で表す
    • か行
  • Q&A(OWONマルチメーター XDM3051のDC Current の最大誤…
    質問:XDM3051のDC Current の最大誤差 測定対象はDC3.0A前後で動作すると予想しています。 もしDC3.0Aで…
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  • NISTとは
    NIST(米国立標準技術研究所) NISTとは、National Institute of Standards and Technologyの略称で、日…
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  • オシロスコープ アプリ
    📱 1. スマホやタブレットで使えるオシロスコープ連携アプリ これは、本体(ハードウェア)とBluetooth/W…
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  • VNA機種ごとの接続例や推奨校正キットの選定表
    以下は、T&Mコーポレーション取扱のVNA機種別の接続コネクタ仕様と推奨校正キット(Cal Kit)の一覧表…
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  • EMC測定とは
    EMC測定とは? ─ 電子機器の「電磁両立性」を確保するための基本試験 EMC(Electromagnetic Compatibilit…
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  • ハンディ オシロスコープ おすすめ機種ガイド
    ハンディ オシロスコープ おすすめ機種ガイド ハンディ・オシロスコープは、現場でのトラブル診断や設備…
    • Scope
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  • 電源の具体的な製品構成例と選定ポイント
    電源の具体的な製品構成例と選定ポイント 電源装置は、用途に応じてさまざまな仕様や構成で選定されます…
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  • S21特性とは
    S21特性とは ~VNAにおいて高周波信号がポート1からポート2へ伝送される度合いを示すパラメータ~ ■ …
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  • DMMでの電流測定
    ✅ DMMでの電流測定 ① 電流測定の基本原理 電流は 回路の電荷の流れそのもの DMMは「シャ…
    • VNA
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  • ファンクションジェネレータ入門(7) 実験・開発での活用例
    ファンクションジェネレータ入門(7)実験・開発での活用例   ■はじめに ファンクションジェネレ…
    • は行
  • メモリデバイスの試験対象となる不良 セル間干渉
    メモリデバイスの試験において、セル間干渉(Cell-to-Cell Interference, CCI)によって生じる不良は、…
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最初…303132333435363738…最後
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