電子計測・分析機器の専門商社 T&Mコーポレーション株式会社

  • 製品

    製品情報

    • オシロスコープ
      • 12ビット高分解能オシロスコープ
      • ハンドヘルド・オシロスコープ
      • ベンチトップ・オシロスコープ
      • 自動車用オシロスコープ
      • PCベース・オシロスコープ
      • タブレット・オシロスコープ
    • ベクトル・ネットワーク・アナライザ
      • ベンチトップ・ベクトル・ネットワークアナライザ
      • ハンドヘルド・ベクトルネットワークアナライザ
      • スペアナ&ネットワークアナライザ用 アクセサリー
      • スイッチマトリックス&メカニカルスイッチ
      • ネットワーク・スペクトラム・アナライザ
    • プローブ
      • 光アイソレーション差動プローブ
      • ロゴスキープ・電流プローブ
      • 電流プローブ
      • 高電圧プローブ
      • 高電圧差動プローブ
      • 高周波電流プローブ
    • スペクトラムアナライザ
      • ベンチトップ・スペクトラムアナライザ
      • ハンドヘルド・スペクトラムアナライザ
      • リアルタイム・スペクトラムアナライザ
      • ノイズフィギュアアナライザ
    • インピーダンス・LCR・半導体計測
      • 高精度ソース・メジャー・ユニット
      • 高抵抗計/pA計/電位計
      • インピーダンスアナライザ
      • 半導体CV特性アナライザ
      • バッテリー・テスター
      • LCRメーター
    • 光計測器
      • チューナブルレーザー光源
      • 光スペクトラムアナライザ
      • 光コンポーネントアナライザ
    • 電源・電子負荷・その他
      • 直流安定化電源
      • DC電子負荷
    • 信号発生器・信号源・FG
      • 任意波形/ファンクション・ジェネレータ
      • ベクトル信号発生器
      • RF信号発生器
      • ハンドヘルド信号発生器
    • 安全規格測定器
      • 安全関連試験機 / 耐電圧試験機
      • インパルス巻線試験機
    • DMM・テスタ・現場測定器
      • ケーブル/ハーネス・テスタ
      • マルチメーター
      • クランプメーター
      • 絶縁抵抗計
      • 直流抵抗計
      • 電力計
    • その他
      • サーモグラフィ・カメラ
      • USBピークパワーセンサ
      • マイクロ波アナライザ
      • パワーアンプ
  • 資料

    資料ダウンロード

    カタログ、技術資料、アプリケーションなどの資料はこちらからダウンロードできます。

    資料ダウンロード一覧

    • アプリケーション・用途
    • 製品カタログ・ユーザーズガイド
    • 取扱説明書・マニュアル
    • 各社製品ビデオ紹介
    • ソフトウェアダウンロード
    • 用語集
    • T&Mノート
  • 購入

    購入・レンタル

    購入・レンタル・お見積りに関するご案内です。オンラインストアからの購入も可能です。

    購入・レンタル一覧

    • 国内販売店
    • ECサイト
    • 直営オンラインストア(見積・購入)
    • 在庫一掃セール
  • アフターサービス

    アフターサービス

    製品をご購入後のお客様に向けたアフターサービスと製品保証に関する情報をご紹介いたします。

    アフターサービス一覧

    • 保証・修理・校正のご案内
    • 非該当証明書の発行
  • 企業情報

    企業情報

    当社に関する情報、および採用に関する情報を提供しています。

    企業情報一覧

    • 会社案内
    • 事業内容
    • 事業拠点・関連会社
  • 採用
  • お問い合わせ
検索

サイト内検索

Online Store オンラインストア

GLOSSARY用語集

  1. TOP
  2. 用語集
  • すべて表示
  • SA
  • SG
  • VNA
  • Scope
  • Z_LCR
  • あ行
  • SEM
  • mwj
  • LCA
  • か行
  • さ行
  • た行
  • な行
  • は行
  • ま行
  • や行
  • ら行
  • S/N比(Signal-to-Noise Ratio)とは
    S/N比(Signal-to-Noise Ratio)とは ~信号の明瞭さ・測定精度を決定づける重要指標~ ■ 定義 **S/N…
    • あ行
  • インパルス巻線試験器の入門③-測定表示とディスプレイ機能
    ― 前面・背面パネルと表示領域の機能ガイド ― 本章では、TH2883S8-5インパルス巻線試験器の物理インター…
    • あ行
  • MicroConnectは、Ceva-PentaG Lite 5GプラットフォームIPをRedC…
    MicroConnectは、Ceva-PentaG Lite 5GプラットフォームIPをRedCap SoCに統合 次世代車両向けにコスト効率…
    • SA
    • SG
    • VNA
  • IEGT(Injection Enhanced Gate Transistor)
    IEGT(Injection Enhanced Gate Transistor)は、日本語で電子注入促進型絶縁ゲートトランジスタと呼ば…
    • Scope
    • SEM
  • LTEと5Gのキャリアアグリゲーション
      📶 LTEと5Gのキャリアアグリゲーション(CA)   LTE(4G)と5Gのキャリアアグリゲーション(C…
    • SA
    • SG
  • 野村 泰平先生 (東京都立大学)
    野村 泰平(のむら たいへい)氏は、東京都立大学の准教授で、主にワイヤレス電力伝送(WPT)や電磁界応…
    • SA
    • SG
    • VNA
  • パイソン パイトーチ
    PyTorch(パイトーチ)は、Pythonで書かれたオープンソースの機械学習ライブラリで、特に**ディープラー…
    • Scope
  • 802.11 be(Wi-Fi 7)とは
    802.11beは、通称「Wi-Fi 7」と呼ばれる次世代の無線LAN通信規格です。 IEEE(Institute of Electrical…
    • SA
    • SG
  • IOWNとNVIDIAの技術連携 AIデータセンター
    IOWNとNVIDIAの技術連携は、AIデータセンターが直面する二大課題、すなわち「爆発的な電力消費」と「デー…
    • LCA
    • VNA
  • OptiX OSN 9800
    華為技術(HUAWEI)がコヒーレント変調器やその関連技術を搭載している主要な光伝送システムは、主に以…
    • LCA
    • VNA
  • 「トラップリッチ層」による高調波抑制(ハーモニクス)
    SoitecのRF-SOI基板、特にRFeSI(RF enhanced Signal Integrity)における**「トラップリッチ層(Trap-R…
    • SA
    • Scope
    • SG
    • VNA
  • STT-MRAM(スピン注入メモリ)と「ロジック・イン・メモリ」
    パワースピン株式会社が核とする2つの革新的技術、STT-MRAMとロジック・イン・メモリについて、その仕組…
    • SA
    • Scope
    • SG
    • VNA
  • 高エネルギーイオン注入による劣化抑制技術、MOSFETとPiNダイオ…
    高エネルギーイオン注入による劣化抑制技術を、MOSFETとPiNダイオードという2つの代表的なデバイスに適…
    • Scope
    • SEM
  • ms
     時間の単位で、0.001秒
    • あ行
  • 波形ポイントとは
    信号のある時点における電圧を表すデジタル値。波形ポイントは、サンプル・ポイントから算出でき、メモリ…
    • は行
  • Q&A(OWONオシロスコープ VDS1022Iの質問について)
    質問:本製品はUSB絶縁形とのことですが、本体の説明書の回路図にプローブのグランドとパソコンのグランド…
    • あ行
  • PINTECHとは
    PINTECH(品致)は、中国・広東省広州市に本社を構える電子計測機器メーカーで、2006年に設立されました。…
    • は行
  • オシロスコープ超入門
      オシロスコープ超入門|はじめてでもわかる波形測定の基本   オシロスコープとは、時間の…
    • あ行
  • オシロスコープ 比較ガイド
    オシロスコープ 比較ガイド オシロスコープには様々なモデルがあり、「何を基準に選べばいいのか分からな…
    • あ行
  • トレーサビリティチャートとは
    トレーサビリティチャートとは トレーサビリティチャート(Traceability Chart)とは、ある測定器の校正…
    • た行
最初…313233343536373839…最後
    • TOP
    • 製品
    • 資料
      • アプリケーション・用途
      • 製品カタログ・ユーザーズガイド
      • 取扱説明書・マニュアル
      • 各社製品ビデオ紹介
      • ソフトウェアダウンロード
      • 用語集
      • T&Mノート
      • エキスパートの知恵袋
    • 購入
      • 国内販売店
      • ECサイト
      • 直営オンラインストア
      • 在庫一掃
    • 企業情報
      • 事業内容
      • 事業拠点・関連会社
    • 採用
    • お問い合わせ
    • お知らせ
    • アフターサービス
        • 保証・修理・校正のご案内
        • 非該当証明書の発行
    • デモ機一覧
  • 会社案内
  • プライバシーポリシー

Copyright © T&Mコーポレーション株式会社 All Rights Reserved.

  • TOP
  • 製品
  • 資料
    • アプリケーション・用途
    • 製品カタログ・ユーザーズガイド
    • 取扱説明書・マニュアル
    • 各社製品ビデオ紹介
    • ソフトウェアダウンロード
    • 用語集
    • T&Mノート
  • 購入
    • 国内販売店
    • ECサイト
    • 直営オンラインストア(見積・購入)
    • 在庫一掃セール
  • アフターサービス
      • 保証・修理・校正のご案内
      • 非該当証明書の発行
  • 企業情報
    • 会社案内
    • 事業内容
    • 事業拠点・関連会社
  • 採用
  • お問い合わせ
  • お知らせ
  • プライバシーポリシー