電子計測・分析機器の専門商社 T&Mコーポレーション株式会社

  • 製品

    製品情報

    • オシロスコープ
      • 12ビット高分解能オシロスコープ
      • ハンドヘルド・オシロスコープ
      • ベンチトップ・オシロスコープ
      • 自動車用オシロスコープ
      • PCベース・オシロスコープ
      • タブレット・オシロスコープ
    • ベクトル・ネットワーク・アナライザ
      • ベンチトップ・ベクトル・ネットワークアナライザ
      • ハンドヘルド・ベクトルネットワークアナライザ
      • スペアナ&ネットワークアナライザ用 アクセサリー
      • スイッチマトリックス&メカニカルスイッチ
      • ネットワーク・スペクトラム・アナライザ
    • プローブ
      • 光アイソレーション差動プローブ
      • ロゴスキープ・電流プローブ
      • 電流プローブ
      • 高電圧プローブ
      • 高電圧差動プローブ
      • 高周波電流プローブ
    • スペクトラムアナライザ
      • ベンチトップ・スペクトラムアナライザ
      • ハンドヘルド・スペクトラムアナライザ
      • リアルタイム・スペクトラムアナライザ
      • ノイズフィギュアアナライザ
    • インピーダンス・LCR・半導体計測
      • 高精度ソース・メジャー・ユニット
      • 半導体CV特性アナライザ
      • 高抵抗計/pA計/電位計
      • インピーダンスアナライザ
      • バッテリー・テスター
      • LCRメーター
    • 光計測器
      • 光スペクトラムアナライザ
      • 光コンポーネントアナライザ
      • チューナブルレーザー光源
    • 電源・電子負荷・その他
      • 直流安定化電源
      • DC電子負荷
    • 信号発生器・信号源・FG
      • 任意波形/ファンクション・ジェネレータ
      • ベクトル信号発生器
      • RF信号発生器
      • ハンドヘルド信号発生器
    • 安全規格測定器
      • 安全関連試験機 / 耐電圧試験機
      • インパルス巻線試験機
    • DMM・テスタ・現場測定器
      • ケーブル/ハーネス・テスタ
      • マルチメーター
      • クランプメーター
      • 絶縁抵抗計
      • 直流抵抗計
      • 電力計
    • その他
      • マイクロ波アナライザ
      • パワーアンプ
      • サーモグラフィ・カメラ
      • USBピークパワーセンサ
  • 資料

    資料ダウンロード

    カタログ、技術資料、アプリケーションなどの資料はこちらからダウンロードできます。

    資料ダウンロード一覧

    • アプリケーション・用途
    • 製品カタログ・ユーザーズガイド
    • 取扱説明書・マニュアル
    • 各社製品ビデオ紹介
    • ソフトウェアダウンロード
    • 用語集
  • 購入

    購入・レンタル

    購入・レンタル・お見積りに関するご案内です。オンラインストアからの購入も可能です。

    購入・レンタル一覧

    • 国内販売店
    • ECサイト
    • 直営オンラインストア(見積・購入)
    • 在庫一掃セール
  • アフターサービス

    アフターサービス

    製品をご購入後のお客様に向けたアフターサービスと製品保証に関する情報をご紹介いたします。

    アフターサービス一覧

    • 保証・修理・校正のご案内
    • 非該当証明書の発行
  • 企業情報

    企業情報

    当社に関する情報、および採用に関する情報を提供しています。

    企業情報一覧

    • 会社案内
    • 事業内容
    • 事業拠点・関連会社
  • 採用
  • お問い合わせ
検索

サイト内検索

Online Store オンラインストア

GLOSSARY用語集SEM

  1. TOP
  2. 用語集
  3. SEM
  • すべて表示
  • SA
  • SG
  • VNA
  • Scope
  • Z_LCR
  • mwj
  • LCA
  • あ行
  • SEM
  • か行
  • さ行
  • た行
  • な行
  • は行
  • ま行
  • や行
  • ら行
  • ワイドバンドギャップ半導体デバイス技術
    ワイドバンドギャップ(WBG: Wide Band Gap)半導体デバイス技術は、従来のシリコン(Si)半導体の限界…
    • Scope
    • SEM
    • Z_LCR
  • AUTO TECH China 2025 で最新の車載 AI
    AUTO TECH China 2025での最新の車載AIについて 2025年の中国の車載AIのトレンドから、以下の様な分野…
    • Scope
    • SEM
  • サブテラヘルツ帯光電融合技術
    サブテラヘルツ帯光電融合技術は、エレクトロニクス(無線)技術とフォトニクス(光)技術の知見や要素…
    • SEM
    • VNA
  • 六フッ化タングステン:半導体製造における「隠れたヒーロー」
    六フッ化タングステン(Tungsten Hexafluoride, WF6)は、半導体製造において**「隠れたヒーロー」と称…
    • Scope
    • SEM
  • 高電圧技術
    高電圧(HV)技術は、パワーエレクトロニクスという分野で非常に重要であり、整流器以外にも多様な電子…
    • Scope
    • SEM
  • 酸化膜電荷(Oxide Charge)とは
    酸化膜電荷(Oxide Charge)とは ~MOS構造における電気的特性に大きく影響する固定電荷~ ■ 定義 **…
    • SEM
    • あ行
  • メモリ不足によりテクノロジー業界でパニック買いが発生
    DigiTimesによると、メモリ調達ブームは2025年第4四半期に激化し、サプライチェーン全体でパニック買いを…
    • Scope
    • SEM
  • 広域連系海底線計画
    「広域連系海底線計画」は、電力の広域的融通を強化し、再生可能エネルギー(再エネ)の最大限の導入と…
    • Scope
    • SEM
  • 電力管理チップ(PMIC)
    PMICとは、Power Management IC(パワーマネジメントIC)の略で、電子機器における電源の制御と分配を一…
    • Scope
    • SEM
  • MOSキャパシタ(MOS Capacitor)とは
    MOSキャパシタ(MOS Capacitor)とは ~金属‐酸化膜‐半導体構造を持つ基本的なC–V測定用デバイス~ ■ …
    • SEM
    • あ行
  • 高電圧に耐えるように設計されたコンデンサー
    高電圧(HV)コンデンサーは、数千ボルト(V)以上の電圧に耐え、安定して動作できるように特殊な設計が…
    • Scope
    • SEM
  • 温度依存C–V特性とは
    温度依存C–V特性とは ~温度変化によって変動する半導体デバイスのC–V挙動~ ■ 定義 **温度依存C–V特…
    • SEM
    • あ行
  • グリッドからゲートへ:第三次エネルギー革命
      ⚡ グリッドからゲートへ:第三次エネルギー革命   「グリッドからゲートへ」という表現は、…
    • Scope
    • SEM
  • ペロブスカイト太陽電池
    ペロブスカイト太陽電池は、ペロブスカイト構造と呼ばれる特定の結晶構造を持つ化合物を発電層に用いた…
    • Scope
    • SEM
  • 低消費電力のインテリジェントな電力管理ソリューション
    低消費電力のインテリジェントな電力管理ソリューションは、主にIoT、ウェアラブルデバイス、およびバッ…
    • Scope
    • SEM
  • ドーピングプロファイル(Doping Profile)とは
    ドーピングプロファイル(Doping Profile)とは ~半導体中の不純物濃度分布を可視化する重要パラメータ…
    • SEM
    • あ行
  • SiインターポーザーやRDLインターポーザー上で複数のロジックチ…
    この技術は、2.5次元 (2.5D) インテグレーションと呼ばれる、高性能半導体の集積技術の中核をなすもので…
    • Scope
    • SEM
    • Z_LCR
  • 高電圧に耐えるように設計された抵抗器
    高電圧抵抗器(高耐圧抵抗器)は、印加される電圧が高くても故障せず、安定した抵抗値を示すように特別…
    • SEM
    • Z_LCR
  • 印加電圧(Test Voltage)とは
    印加電圧(Test Voltage)とは ~試験対象に意図的に加える電圧条件~ ■ 定義 印加電圧(Test Voltag…
    • SEM
    • あ行
  • 酸化膜厚(Oxide Thickness)測定方法は
    酸化膜厚を測定する方法は、対象の膜の厚さや材質、必要な精度によってさまざまな種類があります。主に非…
    • SEM
最初…5678910最後
    • TOP
    • 製品
    • 資料
      • アプリケーション・用途
      • 製品カタログ・ユーザーズガイド
      • 取扱説明書・マニュアル
      • 各社製品ビデオ紹介
      • ソフトウェアダウンロード
      • 用語集
      • エキスパートの知恵袋
    • 購入
      • 国内販売店
      • ECサイト
      • 直営オンラインストア
      • 在庫一掃
    • 企業情報
      • 事業内容
      • 事業拠点・関連会社
    • 採用
    • お問い合わせ
    • お知らせ
    • アフターサービス
        • 保証・修理・校正のご案内
        • 非該当証明書の発行
    • デモ機一覧
  • 会社案内
  • プライバシーポリシー

Copyright © T&Mコーポレーション株式会社 All Rights Reserved.

  • TOP
  • 製品
  • 資料
    • アプリケーション・用途
    • 製品カタログ・ユーザーズガイド
    • 取扱説明書・マニュアル
    • 各社製品ビデオ紹介
    • ソフトウェアダウンロード
    • 用語集
  • 購入
    • 国内販売店
    • ECサイト
    • 直営オンラインストア(見積・購入)
    • 在庫一掃セール
  • アフターサービス
      • 保証・修理・校正のご案内
      • 非該当証明書の発行
  • 企業情報
    • 会社案内
    • 事業内容
    • 事業拠点・関連会社
  • 採用
  • お問い合わせ
  • お知らせ
  • プライバシーポリシー