電子計測・分析機器の専門商社 T&Mコーポレーション株式会社

  • 製品

    製品情報

    • オシロスコープ
      • 12ビット高分解能オシロスコープ
      • ハンドヘルド・オシロスコープ
      • ベンチトップ・オシロスコープ
      • 自動車用オシロスコープ
      • PCベース・オシロスコープ
      • タブレット・オシロスコープ
    • ベクトル・ネットワーク・アナライザ
      • ベンチトップ・ベクトル・ネットワークアナライザ
      • ハンドヘルド・ベクトルネットワークアナライザ
      • スペアナ&ネットワークアナライザ用 アクセサリー
      • スイッチマトリックス&メカニカルスイッチ
      • ネットワーク・スペクトラム・アナライザ
    • プローブ
      • 光アイソレーション差動プローブ
      • ロゴスキープ・電流プローブ
      • 電流プローブ
      • 高電圧プローブ
      • 高電圧差動プローブ
      • 高周波電流プローブ
    • スペクトラムアナライザ
      • ベンチトップ・スペクトラムアナライザ
      • ハンドヘルド・スペクトラムアナライザ
      • リアルタイム・スペクトラムアナライザ
      • ノイズフィギュアアナライザ
    • インピーダンス・LCR・半導体計測
      • 高精度ソース・メジャー・ユニット
      • 半導体CV特性アナライザ
      • 高抵抗計/pA計/電位計
      • インピーダンスアナライザ
      • バッテリー・テスター
      • LCRメーター
    • 光計測器
      • チューナブルレーザー光源
      • 光スペクトラムアナライザ
      • 光コンポーネントアナライザ
    • 電源・電子負荷・その他
      • 直流安定化電源
      • DC電子負荷
    • 信号発生器・信号源・FG
      • 任意波形/ファンクション・ジェネレータ
      • ベクトル信号発生器
      • RF信号発生器
      • ハンドヘルド信号発生器
    • 安全規格測定器
      • 安全関連試験機 / 耐電圧試験機
      • インパルス巻線試験機
    • DMM・テスタ・現場測定器
      • ケーブル/ハーネス・テスタ
      • マルチメーター
      • クランプメーター
      • 絶縁抵抗計
      • 直流抵抗計
      • 電力計
    • その他
      • サーモグラフィ・カメラ
      • USBピークパワーセンサ
      • マイクロ波アナライザ
      • パワーアンプ
  • 資料

    資料ダウンロード

    カタログ、技術資料、アプリケーションなどの資料はこちらからダウンロードできます。

    資料ダウンロード一覧

    • アプリケーション・用途
    • 製品カタログ・ユーザーズガイド
    • 取扱説明書・マニュアル
    • 各社製品ビデオ紹介
    • ソフトウェアダウンロード
    • 用語集
    • T&Mノート
  • 購入

    購入・レンタル

    購入・レンタル・お見積りに関するご案内です。オンラインストアからの購入も可能です。

    購入・レンタル一覧

    • 国内販売店
    • ECサイト
    • 直営オンラインストア(見積・購入)
    • 在庫一掃セール
  • アフターサービス

    アフターサービス

    製品をご購入後のお客様に向けたアフターサービスと製品保証に関する情報をご紹介いたします。

    アフターサービス一覧

    • 保証・修理・校正のご案内
    • 非該当証明書の発行
  • 企業情報

    企業情報

    当社に関する情報、および採用に関する情報を提供しています。

    企業情報一覧

    • 会社案内
    • 事業内容
    • 事業拠点・関連会社
  • 採用
  • 検索

    サイト内検索

通話無料0120-620-115 お問い合わせ
Online Store オンラインストア

GLOSSARY用語集SEM

  1. TOP
  2. 用語集
  3. SEM
  • すべて表示
  • SA
  • SG
  • VNA
  • Scope
  • Z_LCR
  • あ行
  • SEM
  • mwj
  • LCA
  • か行
  • さ行
  • た行
  • な行
  • は行
  • ま行
  • や行
  • ら行
  • EEPROMは成熟した不揮発性メモリ(NVM)今後は?
    EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)は、1980年代の普及開始から約40年が経…
    • Scope
    • SEM
  • サファイア基板上AlGaN系レーザーダイオードの318 nm室温CW発振
    サファイア基板を用いたAlGaN系深紫外レーザーダイオード(UV-LD)における318 nmでの室温連続波(CW)…
    • Scope
    • SEM
  • 磁性流体を用いた可変インダクタ
    磁性流体(磁性ナノ粒子をベースオイルに分散させた液体)を用いた可変インダクタは、従来の可動部を持…
    • Scope
    • SEM
  • 界面準位密度(Interface Trap Density, Dit)とは
    界面準位密度(Interface Trap Density, Dit)とは ~MOS界面の電気的品質を左右する重要パラメータ~ …
    • SEM
    • あ行
  • PER-DDPGを用いた狭路環境におけるロボット移動
    PER-DDPG(Prioritized Experience Replay - Deep Deterministic Policy Gradient)を用いた狭路環境に…
    • SA
    • Scope
    • SEM
  • SiC 超低VF 低Rds(on)
    SiC(炭化ケイ素)が持つ超低VF(順方向電圧)と低RDS(on)(オン抵抗)は、シリコン(Si)半導体に対す…
    • SEM
  • 高エネルギーイオン注入による劣化抑制技術、MOSFETとPiNダイオ…
    高エネルギーイオン注入による劣化抑制技術を、MOSFETとPiNダイオードという2つの代表的なデバイスに適…
    • Scope
    • SEM
  • 48V車載システム 冗長電源系での回路構成
    48Vシステム、特に自動運転(AD)や電子制御ブレーキ(brakes-by-wire)などの安全に関わるシステムでは…
    • Scope
    • SEM
  • トレンチ型SiC-MOSFET、プレーナ型が抱えていた物理的な限界打破
    トレンチ型SiC-MOSFETは、従来のプレーナ型が抱えていた物理的な限界(JFET抵抗やセル密度の制約)を打…
    • Scope
    • SEM
    • VNA
  • vdW積層材 モアレ光学
    「モアレ光学(Moiré Optics)」は、vdW積層材料の物理学において現在最もエキサイティングなフロンティ…
    • SEM
    • VNA
  • 酸化ガリウム(β-Ga2O3)デバイスへの応用例(SBDやMOSFETなど)
    β-Ga2O3(酸化ガリウム)の150 mm基板が実現することで、パワーデバイスへの応用はいよいよ実用化のフェ…
    • Scope
    • SEM
  • 一相PWM変調方式三相インバータ
    「一相PWM変調方式」は、別名**「二相変調(Two-phase Modulation)」や「不連続PWM(DPWM: Discontinuo…
    • Scope
    • SEM
  • スピントロニクス半導体とCMOS技術の融合
    スピントロニクス半導体とCMOS技術を融合させることは、次世代の半導体技術において最も重要な研究開発…
    • Scope
    • SEM
  • QST (Qromis Substrate Technology) 基板
    QST (Qromis Substrate Technology) 基板は、GaN(窒化ガリウム)デバイスの成長に特化して開発された複…
    • Scope
    • SEM
  • ガラス基板やハイブリッドボンディング要素技術
    次世代ヘテロジニアス・インテグレーション(HI)を支える2つの核となる要素技術、**「ガラス基板」と「…
    • SEM
    • VNA
  • α型 vs β型-Ga2O3の具体的な違い
    酸化ガリウム(Ga2O3)には複数の結晶構造(多形)がありますが、パワーデバイスとして研究が進んでいる…
    • Scope
    • SEM
  • ウェハを極限まで薄く削る技術動向
    ウェハを極限まで薄く削る技術は、BSPDN(裏面電源供給)や3D積層を実現するための「バックエンド工程の…
    • Scope
    • SEM
    • VNA
  • BLE SoC 開発環境(SDKやコンパイラ)
    前述した主要な2つのプラットフォーム(NordicとRenesas)は、開発環境の設計思想が大きく異なります。…
    • SA
    • Scope
    • SEM
  • パワー半導体のSiトレンチ
    パワー半導体(IGBTやMOSFET)のSiトレンチ形成では、耐圧特性やオン抵抗に直結する**「トレンチ形状の…
    • Scope
    • SEM
  • ソフトスイッチング(ZVS/ZCS)が成立する条件
    絶縁型Y-Δ SR-SABにおいて、ソフトスイッチング(ZVS: ゼロ電圧スイッチング、ZCS: ゼロ電流スイッチン…
    • Scope
    • SEM
最初…91011121314151617…最後
    • TOP
    • 製品
    • 資料
      • アプリケーション・用途
      • 製品カタログ・ユーザーズガイド
      • 取扱説明書・マニュアル
      • 各社製品ビデオ紹介
      • ソフトウェアダウンロード
      • 用語集
      • T&Mノート
      • エキスパートの知恵袋
    • 購入
      • 国内販売店
      • ECサイト
      • 直営オンラインストア
      • 在庫一掃
    • 企業情報
      • 事業内容
      • 事業拠点・関連会社
    • 採用
    • お問い合わせ
    • お知らせ
    • アフターサービス
        • 保証・修理・校正のご案内
        • 非該当証明書の発行
    • デモ機一覧
0120-620-115 タッチして今すぐお電話
通話
無料
お問い合わせ 配送 T&M 即納ストア
  • 会社案内
  • プライバシーポリシー

Copyright © T&Mコーポレーション株式会社 All Rights Reserved.

  • TOP
  • 製品
  • 資料
    • アプリケーション・用途
    • 製品カタログ・ユーザーズガイド
    • 取扱説明書・マニュアル
    • 各社製品ビデオ紹介
    • ソフトウェアダウンロード
    • 用語集
    • T&Mノート
  • 購入
    • 国内販売店
    • ECサイト
    • 直営オンラインストア(見積・購入)
    • 在庫一掃セール
  • アフターサービス
      • 保証・修理・校正のご案内
      • 非該当証明書の発行
  • 企業情報
    • 会社案内
    • 事業内容
    • 事業拠点・関連会社
  • 採用
  • お知らせ
  • プライバシーポリシー
お問い合わせ