ADL5961　基板インピーダンス、ICテスト用途

基板（PCB）のインピーダンス測定やICテストにおいて、ADL5961のような「チップ型VNA」が登場したことは、これまでの測定フローを劇的に変える可能性を秘めています。

特に、**「プローブの先で何が起きているか」**を安価に、かつ高精度に可視化できる点が最大のメリットです。

1. 基板のインピーダンス測定（TDR/Sパラメータ）

高速デジタル信号（PCIe Gen5/6やDDR5など）を扱う基板では、配線のインピーダンス整合が極めて重要です。

• 配線の不連続点チェック: ビア（Via）やコネクタの接続部でインピーダンスが乱れると、信号反射が起きエラーの原因になります。ADL5961は26.5GHzまでの帯域があるため、非常に短い時間分解能での解析が可能です。

• 「その場」で計測:

  従来の巨大なVNAでは、長い同軸ケーブルを介して基板に接続するため、ケーブル自体の損失や歪みの補正（校正）が大変でした。ADL5961をテストジグの至近距離に配置すれば、純粋な基板の特性だけを抽出しやすくなります。

2. ICテスト・ウェハテストへの応用

ICの量産テストや評価において、ADL5961は「コスト破壊」の鍵となります。

• マルチサイト・テストの低コスト化:

  これまで、複数のICを同時にVNAでテストするには、非常に高価な多ポートVNAか、複雑なRFスイッチマトリクスが必要でした。

  • 新発想: 1個数百ドルのADL5961を、テストヘッドにICの数だけ並べるという贅沢な使い方が可能になります。これにより、並列テストの効率が飛躍的に向上します。

• IC内部の自己診断（BIST）:

  将来的には、ADL5961のような機能を通信機器やサーバーの基板に最初から載せておき、**「ICが正常に実装されているか」「経年劣化でインピーダンスがズレていないか」**を運用中にセルフチェックする（Built-In Self-Test）用途も期待されています。

3. 実装上の技術的ハードル

NanoVNAなどのホビー機と違い、基板インピーダンスやICテストでADL5961を使いこなすには、以下の「プロの設計」が求められます。

• 校正（Calibration）:

  ICの出力ピンから、基板の測定ポイント（プローブの先端）までの誤差を取り除くための「SOLT校正」をソフトウェアで実装する必要があります。

• 基板設計:

  ADL5961自体の性能を引き出すために、チップ周辺の配線も26.5GHzに対応した低損失な材料（Megtron 6やテフロン基板など）と精密なパターン設計が不可欠です。

まとめ：なぜADL5961が選ばれるのか

LiteVNAなどは「趣味のアンテナ調整」には最高ですが、基板の微細なインピーダンス変化やICの出荷検査に求められる「絶対的な再現性」や「自動化への対応」には、ADIが保証するスペックと、プログラマブルなADL5961が適しています。

次のステップのヒント:

もし特定のICや基板配線の測定を想定されている場合、**「差動信号（ディファレンシャル）」**の測定が必要かどうかが重要になります。ADL5961はシングルエンドですが、2つ組み合わせることで混合モードSパラメータ（差動インピーダンス）の解析も可能です。

具体的な測定対象（例：高速差動信号の配線、特定ICのRF端子など）について、さらなる詳細が必要ですか？

出典：Google Gemini

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