Hot TDR (LNAを動作状態にして行うTDR測定) において、S12(逆方向伝達特性)を考慮することは、デバイスの安定性とアイソレーションを評価する上で極めて重要です。
通常のパッシブ回路では S12 は反射波に影響を与えませんが、LNAのようなアクティブデバイスでは、出力側の状態が S12 を介して入力側の反射波形(TDR)に干渉するためです。
1. Hot TDRにおける S12 の役割
LNAのHot TDRを観測しているとき、入力ポートから入ったステップ信号の一部は、増幅されて出力へ向かいます(S21)。逆に、出力ポートで反射した信号(または接続先の不整合)は、S12 を通って再び入力側へ戻ってきます。
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干渉効果: もし出力側の終端が完璧な 50Ω でない場合、出力からの反射波が S12 分だけ減衰・位相回転して入力側のTDR波形に重畳されます。
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誤差の正体: これにより、純粋な入力インピーダンス S11 ではなく、「S11 と出力からの戻り波」が合成された見かけ上の反射波形が測定されます。
2. S12が高い(アイソレーションが悪い)LNAの場合
特に広帯域LNAや、パッケージ内で帰還(Feedback)をかけている設計の場合、$S_{12}$ が無視できない大きさになることがあります。
| 現象 | 理由 | TDR波形への影響 |
| 負荷依存性 | S12 経由の戻り波があるため | 出力端の負荷(コネクタやケーブル)を外すと波形が変わる |
| 発振リスク | 入力から出力へ、出力から入力へループができている | 波形が平坦にならず、微細なリプルやスパイクが出る |
| 不整合の誤認 | 出力側のインピーダンス不整合を入力側の反射と勘違いする | 実際には入力はマッチングしているのに、入力TDRが荒れる |
3. 正確なHot TDR測定のための対策
Hot TDRで S12 の影響を排除、あるいは評価するための手順です。
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出力端の精密終端: 出力端に高品質な 50Ω ターミネーション(できればDCブロック付き)を接続し、出力からの反射を最小化します。
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S12の周波数測定との相関:
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VNAで周波数ドメインの S11 と S12 を測定する。
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S12 が -20dB 以上(例: -15dBなど)ある場合は、TDR波形に現れる反射成分の少なくとも一部は「出力側から来ている」と判断する。
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タイムゲートの活用 (VNAベースTDRの場合):
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VNAで測定する場合、タイムゲート機能を使って、LNAの内部パッケージ通過後の反射成分をカットすることで、出力側からの戻り波を物理的に遮断可能です。
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順方向と逆方向の比較:
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入力ポートからTDRを測った波形と、出力ポートからTDRを測った波形を比較する。
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S21 が大きい方向では、出力側からの戻り波が強いため、TDR波形がより乱れやすくなります。
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4. 測定のチェックリスト
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LNAは飽和していないか: ステップ信号の振幅が大きすぎると、LNAの増幅機能が非線形になり、$S_{12}$ の値自体が測定時と通常動作時で変わってしまう可能性があります。
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バイアス回路の結合: バイアス回路を通して出力側のノイズや反射が回り込んでいないか。バイアスティー付近のTDR応答も確認してください。
専門的ヒント:
Hot TDRで入力TDR波形が異常に荒れる場合、それはLNAが発振寸前であるか、あるいは出力側の負荷による引き込み(Pulling)が発生している証拠です。この場合、TDR測定と同時にスペクトラムアナライザで「動作中に異常な発振波形が出ていないか」を監視することをお勧めします。
もし、特定の周波数帯域で S12 が特に悪化するLNAを測定されるのであれば、その周波数範囲にバンドパスフィルタを挿入してTDRを行うことで、帯域内の安定性をより正確に評価できます。
出典:Google Gemini (Gemini は AI であり、間違えることがあります。)
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