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- 入力整合回路（マッチング回路）の影響: LNAは通常、動作周波数においてソースインピーダンス（通常(50Ω)）と共役整合するように設計されています。したがって、動作周波数帯域内では反射が最小（インピーダンスが(50Ω)に近づく）になる波形が期待されます。
- 能動素子（トランジスタ）のインピーダンス変化: 動作中、入力側の反射係数（S11)）はトランジスタのバイアス状態や増幅器の負荷条件に依存します。TDRの高速パルス（広帯域信号）が入力されると、整合帯域外での高インピーダンスや容量性/誘導性成分が反射波として現れる場合があります。
- 非線形動作による波形の歪み: TDRのパルス電圧が大きい場合、LNAが飽和し、動作点が非線形領域に入るため、反射波形が入力電圧レベルに依存して変化します。
- 負性抵抗の可能性: コレクタ（またはドレイン）側の出力インピーダンスが安定していない場合、反射波形に負性抵抗成分（全反射以上、あるいは位相が反転した状態）が混ざることがあります。
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- 測定系の保護: LNAが動作している場合、DCバイアスや、LNAが発生させる信号がTDR計測器（サンプリングオシロスコープ）に入り込み、故障の原因となる可能性があるため、DCブロックが必要です。
- 解釈の難しさ: 動作中の能動回路における反射解析は、パッシブ回路に比べて複雑であり、Sパラメータ（S11)を基にしたシミュレーションと実測値の照合が不可欠です。
出典：Google Gemini (Gemini は AI であり、間違えることがあります。)
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