XU-100 下面照射型蛍光X線膜厚計

・コーティング厚さの分析
・各層の合金成分分析
・RoHS検査
・検査速度が速い
・ズーム装置のアルゴリズム
・高精度ミニチュア移動レール
・より高いコストパフォーマンス
・長寿命
・下面照射式設計
サンプルへの位置決めとピント合わせを素早く簡単に行えます。
・マイクロフォーカスX線装置
最短測定距離でのスポットの広がり10%以内で、各種めっき層の膜厚検査が可能です。
・Pro-SDプロセッサ＋PC／DPP＋FAST SDD（オプション）
微小サンプルの測定でも数秒で安定した結果が得られます。
・先進的なEFPアルゴリズム
多層・多元素、同一元素が異なるめっき層にある場合も含め、素早く正確かつ安定したデータ分析が可能です。

まったく新しい下面照射方式を採用し、コストパフォーマンスに優れ汎用性の高いモデルです。各種の平面部品、異形部品、めっき液の検査を簡単かつ迅速に行え、検査結果を自動判定できます。

各種金属めっき層を検査でき、検出下限値は0.005μmです。